最後更新:2026年10月23日記憶體測試系統

Magnum V的特點與規格

泰瑞達(Teradyne)・記憶體測試系統

以高平行效率測試超高性能快閃記憶體與 DRAM 的記憶體測試系統。最多 20,480 通道・1,600Mbps。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Magnum V 是泰瑞達(Teradyne)的記憶體測試系統。以高產能與平行測試效率,測試超高性能的快閃記憶體與 DRAM。

最大配置下擁有 20,480 個每通道 1,600Mbps 的數位通道。透過 1.6Gbps 的 SuperMux 模式,支援現在與下一代的超高速記憶體元件。

每個測試站(site)配備 3.4GHz 四核心處理器,可用多個測試程式同時測試,也可對 LPDDR 與 NAND 的 MCP 進行單次插入測試。透過針對 DRAM 的圖樣(pattern)與時序擴充,可在共通平台上測試快閃記憶體與 DRAM。用於 eMMC、Toggle NAND、ONFI 等。

主要規格

通道最多 20,480 個數位通道
速度1,600Mbps(1.6Gbps SuperMux)
對象快閃記憶體・DRAM・LPDDR・MCP

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

最多 20,480 通道
1.6Gbps SuperMux
以共通平台測試快閃記憶體與 DRAM

主要用途

  • NAND・eMMC 的測試
  • LPDDR・MCP 的測試

製造商

泰瑞達(Teradyne)(總部:美國)

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資料來源

  1. 泰瑞達(Teradyne)官方產品頁面:Teradyne Magnum V