IP750Ex-HD 是泰瑞達（Teradyne）針對影像感測器的測試系統。為 CCD 與 CMOS 感測器用的第 4 代測試平台，可同時用於晶圓與封裝後元件的測試。
每個量測儀器具備 40Gbps 的影像資料傳輸，支援 MIPI D-PHY（2.5Gbps）、C-PHY（2.5Gsps）、M-PHY（6.0Gbps）的影像擷取。據廠商表示，也支援獨家 LVDS 協定這一點在市場上是唯一的。以 64 位元影像資料處理支援高解析度元件，可測試從 VGA 到超過 1 億畫素的感測器。
支援最多 80 站點的平行測試，並支援 150×160mm 的照明裝置。與 J750Ex-HD 的量測儀器相容，軟體為 IG-XL。用於智慧型手機、數位相機、ToF 感測器、3D 感測・AR／VR、車用 ADAS、指紋辨識相機、監視攝影機用影像感測器的測試。