Magnum E2 是泰瑞達（Teradyne）的下一代高速記憶體測試系統。支援 LPDDR6、DDR6、GDDR7、NAND 快閃記憶體等先進 DRAM 與快閃記憶體介面。
以廣泛導入的 Magnum EPIC 平台之基礎、具實績的 Near-DUT Test（NDT）架構為本打造。透過配置在元件附近的數位量測儀器取得優異的訊號完整性（signal integrity），提升全速測試的性能，並使良率最大化。
提供生產用與工程用配置，從驗證到量產都以共通的硬體與軟體對應。支援 NRZ、PAM3、PAM4 高速訊號，並以具彈性的演算法圖樣產生器，無需更換測試機即可對應現在與未來的 DRAM・NAND 規格。也內建邏輯測試功能。