用於 DRAM 最終測試的記憶體測試機。採用在 DUT 附近量測的 Near-DUT-Test 技術，兼顧高速化與高平行測試。
目錄5 項
- 產品概要
- 主要規格
- 主要特點
- 製造商與在台據點
- 資料來源
產品概要
Magnum EPIC 是泰瑞達最新世代的 DRAM 記憶體測試機。支援 LPDDR5・DDR5・LPDDR4x・繪圖用 DDR，負責 5G、AI、雲端、自動駕駛、AR/VR 等用途記憶體的測試。
特點是 Near DUT Test（NDT）技術。將訊號量測儀器直接連接到元件專用的轉接器，省去長纜線以提高訊號品質。透過支援源同步（source synchronous），DQ 輸出的眼圖開口變寬，廠商表示有助於提升良率。
量產用的 Magnum EPIC SSV 配備 18,400 個以上 7Gbps 高速數位通道與 2,000 個電源通道，最多可配置 128 個 144 接腳的記憶體測試單元（MTU）。與開發用的 EV（最多 1,152 接腳）在轉接器與測試程式上相容。
主要規格
| 支援元件 | LPDDR5・DDR5・GDDR6 |
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| 通道數 | 超過 18,400 ch（7 Gbps／ch） |
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| 電源通道 | 2,000 ch |
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| 配置 | 最多 128 MTU（每 1 MTU 144 支高速接腳） |
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| 特點 | Near-DUT-Test 技術 |
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規格依廠商公開資料整理，實際規格與選配請以廠商資料為準。
主要特點
以 Near DUT Test（NDT）實現高訊號品質 SSV：7Gbps × 超過 18,400 ch、電源 2,000 ch、最多 128 MTU 可同時測試混載 LPDDR 與 NAND 的 MCP 主要用途
- LPDDR5・DDR5 的最終測試
- 繪圖用 DDR・MCP 的量產測試