J750Ex-HDとは
J750Ex-HD は、Teradyne の J750 ファミリーの最新機種です。比較的シンプルなミクスドシグナルデバイスを、品質を落とさずにもっとも低いコストで試験します。
自動車、モバイル機器、ロボットなどで使われる MCU（マイクロコントローラ）の試験で広く使われています。6,000 台以上の導入実績を持ち、50 以上の OSAT 拠点で使え、低コストデバイスの大量試験の業界標準となっています。
J750 は 1998年に登場し、単一サイトの試験時間の短縮と並列試験効率の最適化で試験コストを下げてきました。全期間にわたって互換性を保ちながら新しい計測器を加えてきた、もっとも長く続く現役の ATE 製品です。
主な特長
- •MCU 試験の業界標準
- •6,000 台以上の実績
- •1998年からの互換性を維持
主な仕様
| 対象 | MCU・比較的シンプルなミクスドシグナルデバイス |
|---|---|
| 実績 | 6,000 台以上・50 以上の OSAT 拠点 |
| 初登場 | 1998年（J750 ファミリー） |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | アドバンテストV93000 EXA Scale | Teradyne（テラダイン）UltraFLEXplus | Teradyne（テラダイン）J750Ex-HD |
|---|---|---|---|
| 対応デバイス | モバイルSoC・HPC・AI向け先端デジタルIC | デジタル／ミックスドシグナル SoC | — |
| プラットフォーム | V93000 シリーズ | UltraFLEX ファミリー | — |
| 主要用途 | 先端デジタルICの量産テスト | 複雑なSoCのデバッグ・特性評価・量産テスト | — |
1機種だけが掲載している項目（10件）
| デジタルカード | Pin Scale 5000（スキャン 5 Gbps） | — | — |
|---|---|---|---|
| 電源カード | XPS256（mA ～ 1,000 A 超） | — | — |
| 内部ネットワーク | Xtreme Link | — | — |
| アーキテクチャ | — | PACE マルチコントローラ | — |
| システム構成 | — | 3種のベースシステム | — |
| DIB | — | Broadside DIB（高密度・多サイト） | — |
| ソフトウェア | — | IG-XL | — |
| 対象 | — | — | MCU・比較的シンプルなミクスドシグナルデバイス |
| 実績 | — | — | 6,000 台以上・50 以上の OSAT 拠点 |
| 初登場 | — | — | 1998年（J750 ファミリー） |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •MCU の大量試験
- •低価格ミクスドシグナルデバイス
掲載カテゴリ
J750Ex-HDは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Teradyne（テラダイン）
ATE（自動テスト装置）の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
ロジックテストシステムのほかの製品
Teradyne（テラダイン）のほかの製品
UltraFLEXplus（ロジックテストシステム）Magnum EPIC（メモリテストシステム）UltraFLEX（最終テスト装置）ETS-800（混在型テストシステム）IP750Ex-HD（イメージセンサテストシステム）ETS-364（アナログ・リニアテストシステム）ETS-88（アナログ・リニアテストシステム）Magnum V（メモリテストシステム）Magnum 2（メモリテストシステム）Magnum 7（メモリテストシステム）Magnum VUy（メモリテストシステム）Magnum 7H（メモリテストシステム）Magnum E2（メモリテストシステム）Titan（システムレベルテスト）（最終テスト装置）Titan HP（システムレベルテスト）（最終テスト装置）Photon 100（混在型テストシステム）Iris 100（イメージセンサテストシステム）
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日：2026-10-07