Magnum 2 是泰瑞達（Teradyne）兼具高性能・低成本・高效率的平行記憶體測試系統。以高產能與平行測試效率，測試高性能的非揮發性記憶體、SRAM 與邏輯元件。
可從通道數較少的工程用配置，擴充到通道數較多的量產用配置。可同時測試最多 80 顆 NAND 快閃記憶體（訊號接腳最多 16 支）、最多 20 顆 NOR 快閃記憶體（最多 64 支）、最多 160 顆序列快閃記憶體（最多 8 支）。
具備全通道 800Mbps 的全速 ECR、冗餘（redundancy）分析處理系統，以及每個 DUT 的 DRAM eFuse 與 NAND 壞區塊管理。可將演算法圖樣產生器（APG）與每接腳向量記憶體（LVM）以同一圖樣組合，也能測試邏輯元件。