日本マイクロニクス/プローブカード

U-Probe

独自の MEMS マイクロカンチレバーを使い、ウェーハ全面を 1 回のコンタクトで測れるようにした日本マイクロニクスのプローブカード。

U-Probeとは

U-Probe は、日本マイクロニクスのメモリ向けプローブカードです。独自の MEMS 技術で開発したマイクロカンチレバー型の MEMS プローブと、薄膜多層配線基板の製造技術を組み合わせています。

12 インチウェーハの DRAM とフラッシュメモリのダイを、多数同時にテストするために設計されています。1 枚のカードで約 2,500 個の DUT に対応し、約 20 万本のピンを搭載しています。12 インチウェーハを 1 回のタッチダウンで試験できます。

テスタのリソースを最大限に生かす効率的なデバイス配列と、歩留まりを高める最適な接続性を持ちます。プリント基板を使わず、MEMS プローブ付きの薄膜多層基板を直接テスタにドッキングする軽量・低コストの PCB レス版もあります。

主な特長

  • •MEMS マイクロカンチレバープローブ
  • •約 2,500 DUT・約 20 万ピン
  • •12 インチウェーハを 1 タッチダウンで試験
  • •PCB レス版(軽量・低コスト)

主な仕様

プローブ方式MEMS マイクロカンチレバー
対象デバイスメモリ(12 インチ一括・約 2,500 DUT)
関連製品MEMS-SP/MEMS-V
主要用途メモリのウェーハテスト

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目FormFactorApollo™ MF100日本マイクロニクスU-ProbeTechnoprobeTPEG™ MEMS
プローブ方式MEMS 垂直プローブMEMS マイクロカンチレバー垂直 MEMS プローブ
対象デバイスGPU・ゲーム機 MPU・車載マイコン・APメモリ(12 インチ一括・約 2,500 DUT)高性能・高密度 SoC
関連製品SmartMatrix(DRAM・HBM の 300mm 全面一括)MEMS-SP/MEMS-Vカンチレバー型プローブカード
主要用途ロジックのウェーハテストメモリのウェーハテスト狭ピッチ・大電流のウェーハテスト

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •DRAM・フラッシュメモリのウェーハテスト

掲載カテゴリ

U-Probeは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

日本マイクロニクス

半導体テスト用プローブカードの国内大手メーカー。ウェハ検査用プローブカード・LCD/FPD検査装置を中心に、電気的接続・検査技術を幅広く展開する。

日本マイクロニクス の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-06
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