篩選（Screening）意為「過篩、分選」，在半導體中是指對出貨前的產品施加某種應力或測試，找出並剔除帶有潛在缺陷的產品。即使製造剛完成時運作正常，仍會有一定比例的早期故障潛在品在開始使用後很快損壞，目的是在出貨前將其篩除，以減少市場不良。
代表性的篩選有以下幾種。（1）預燒（burn-in）：在高溫・高電壓下運作一定時間，加速早期故障使其顯現。（2）電壓應力測試：短時間施加高於平常的電壓，找出脆弱的閘極氧化層等。（3）溫度循環篩選：以溫度升降使接合或組裝的弱點顯現。（4）IDDQ測試：從靜態時電源電流的異常，找出功能測試容易遺漏的缺陷。（5）PAT（Part Average Testing）：即使量測值在規格範圍內，若明顯偏離同批其他產品的分布，也作為潛在不良剔除。
篩選是對產品全數進行，這一點與使用部分試樣確認設計或製程可靠度的可靠度試驗（認證試驗），以及判定批次合格與否的抽樣檢驗角色不同。施加的應力越強，能剔除的潛在不良越多，但也可能損傷良品，並增加測試時間與成本，因此要依用途決定將浴缸曲線的早期故障期剔除到什麼程度。車用等要求高品質的產品，會以ppm（每100萬個）為單位管理不良率，並組合多種篩選。