DPPM（Defective Parts Per Million）是表示每出貨100萬個產品中所含不良品數量的品質指標。它量化了通過測試而流出到市場的不良，也就是所謂測試漏失（test escape）的數量，是與客戶之間品質保證合約的核心數值。
要求水準因用途而有很大差異。消費性電子產品有時可容許數百 DPPM，但車用一般要求1位數 DPPM，涉及功能安全的部位則普遍以0 DPPM 為目標。在1個不良就可能導致事故的用途上，判斷會是即使增加測試成本也要抑制流出。
降低 DPPM 的手段在測試端與設計端都有。測試端的方法包括提高故障涵蓋率（不只看固定型故障，也看轉換故障與 IDDQ）、加做以接近實際使用條件驗證的 SLT、以預燒剔除早期不良等。設計端則以充實 DFT 結構、確保可測試性為前提。
然而測試做得越多，成本越高，過殺（將良品誤判為不良）的風險也會上升。接觸不良或雜訊造成的誤判，不僅會不當地拉低良率，還會扭曲真正不良的統計。DPPM 的管理，是同時兼顧流出與過殺的平衡調整。
近年來，以測試結果的統計分析來取得這個平衡的做法逐漸普及。將測量值偏離同一晶圓內鄰近晶粒的個體判為不良的 PAT（Part Average Testing），以及依良品履歷增減測試項目的自適應測試（adaptive test），都是以兼顧 DPPM 與測試成本為目標的手法。