自適應測試是不將預先固定的測試項目一律套用到所有產品，而是依量測資料與履歷動態改變測試內容、順序與判定基準的手法。這是以同時降低測試成本與提升品質為目標的思維，隨著即時分析測試資料的基礎架構普及而逐步實用化。
代表性的形式是判定基準的動態化。PAT（Part Average Testing）除了以規格值做絕對判定之外，還會從同一晶圓內鄰近晶粒的分布求出統計上下限，將超出範圍的個體判為不良。這是基於「雖在規格內，但與周圍明顯不同的『異常良品』很可能是潛在不良」這項經驗法則的手法。
測試項目也會增減。例如晶圓測試結果良好的批次省略最終測試的部分項目，反之對前段製程觀察到異常的晶圓加做測試或預燒。只對晶圓圖上不良集中區域周邊的晶粒重點檢測的做法，也可說是其中一種。
實現的前提是跨製程的資料能夠串接。必須以同一 ID 串接分析前段製程的製程資料、晶圓測試的量測值、最終測試結果，乃至市場的不良資訊，資料基礎架構與可追溯性是技術上的根基。PDF Solutions 等廠商提供這個領域的解決方案。
其效果是同時達成縮短測試時間與降低 DPPM 這2個看似相互矛盾的目標。這是一種思維轉換：不再一律施加厚重的測試，而是將資源集中在高風險個體上。在必須兼顧車用嚴格品質要求與成本壓力的情況下，採用範圍正在擴大。