SEMICONDUCTOR EQUIPMENT
Low-k絶縁膜メーカー4社
Low-k絶縁膜(低誘電率絶縁膜)は、配線層間の信号伝播遅延と消費電力を削減するために使用される配線間絶縁材料です。従来のSiO₂(k≈3.9)より低い誘電率(k<3.0)を実現し、導体間容量を低減することで信号速度向上と電力削減を達成します。ポーラスSiCOH(k≈2.5以下)が先端ロジックの主流で、CVD/ALD で成膜されます。高孔隙率化で誘電率を下げるほど機械強度が低下するというトレードオフが技術的課題です。
メーカー 4 社関連カテゴリ 9 件
主要特徴
配線間容量を低減し信号遅延・消費電力を削減する配線層間絶縁材料
k値2.0〜2.5のポーラス(多孔質)SiCOH材料が先端ロジックで主流
低k化(孔隙率増大)と機械強度のトレードオフが製造上の主要課題
CVD/ALD成膜後にスピンコート・熱処理で孔隙を形成するプロセスが多い
Applied Materials・ASM・TEL・Versum(Merck)が主要サプライヤー
よくある質問
メーカー
4社の主要メーカー
関連カテゴリ
関連用語
比較・違いを学ぶ
銅配線とコバルト・ルテニウム配線の違い(先端ノード配線材料の比較)
半導体の銅(Cu)配線は1997年にIBMが量産化して以来、ロジックチップの標準配線材料です。しかし5nm以下の先端ノードでは配線幅が10nm以下になり、銅の有…
銅配線とアルミ配線の違い(半導体配線の比較)
アルミ配線は古くから使われた成膜+エッチングで形成する配線、銅配線は低抵抗・高信頼性を求めて導入されたダマシン(溝埋め込み)で形成する配線です。1990年代後半…
Cu-CMPとW-CMPの違い(メタルCMPの比較)
メタルCMPは、配線を作るための「余分な金属を削り落とす」工程です。銅ダマシン配線の余剰Cu除去と、コンタクトプラグのタングステン除去という二大用途がありますが…
ALDとPVDの違い(原子層成膜 vs スパッタ成膜)
ALD(Atomic Layer Deposition:原子層堆積)とPVD(Physical Vapor Deposition:物理気相成長)は、どちらも半導…