SEMICONDUCTOR EQUIPMENT

Low-k絶縁膜メーカー4

Low-k絶縁膜(低誘電率絶縁膜)は、配線層間の信号伝播遅延と消費電力を削減するために使用される配線間絶縁材料です。従来のSiO₂(k≈3.9)より低い誘電率(k<3.0)を実現し、導体間容量を低減することで信号速度向上と電力削減を達成します。ポーラスSiCOH(k≈2.5以下)が先端ロジックの主流で、CVD/ALD で成膜されます。高孔隙率化で誘電率を下げるほど機械強度が低下するというトレードオフが技術的課題です。

メーカー 4関連カテゴリ 9

主要特徴

配線間容量を低減し信号遅延・消費電力を削減する配線層間絶縁材料
k値2.0〜2.5のポーラス(多孔質)SiCOH材料が先端ロジックで主流
低k化(孔隙率増大)と機械強度のトレードオフが製造上の主要課題
CVD/ALD成膜後にスピンコート・熱処理で孔隙を形成するプロセスが多い
Applied Materials・ASM・TEL・Versum(Merck)が主要サプライヤー

よくある質問

Low-k絶縁膜とは何ですか?
Low-k絶縁膜は、多層配線構造の配線間に使用される低誘電率絶縁材料です。従来のSiO₂(k≈3.9)より低い誘電率で配線間容量を低減し、信号伝播遅延と消費電力を削減します。先端ロジックではポーラス(多孔質)SiCOH(k≈2.0〜2.5)が標準的です。
Low-k絶縁膜でなぜ孔隙率が重要ですか?
孔隙率を高めるほど誘電率は下がりますが、機械強度・熱伝導率が低下しCMPやボンディング工程での剥離・破損リスクが増します。このトレードオフを制御するため、孔径・分布・成膜プロセスの最適化が先端プロセスの重要技術課題です。
High-kとLow-kはどう使い分けられますか?
High-kはMOSFETのゲート絶縁膜(ゲートリーク削減が目的)、Low-kは配線層間絶縁膜(配線間容量低減が目的)と用途が異なります。どちらも先端ロジックに不可欠ですが、使われる場所と役割が全く別です。

メーカー

4社の主要メーカー

Merck KGaA(半導体材料)ドイツ

ドイツの特殊化学・製薬大手Merck KGaAの半導体材料部門。ALD前駆体・高誘電材料・フォトマスクブランクス・液晶など先端材料を供給。

ALD前駆体
High-k誘電体材料メタルゲート前駆体
フォトマスク材料
マスクブランクス
特殊ガス
プロセスガスエッチングガス
  • ALD/CVD前駆体(High-k・メタルゲート材料)のグローバルリーダー
  • フォトマスクブランクスの主要サプライヤー
DuPont(半導体材料)米国

化学大手DuPontの電子材料部門。Low-k絶縁材・銅配線CMP材料・ArFフォトレジスト・半導体実装向け接着剤など先端材料を幅広く展開。

絶縁材料
Low-k誘電体フィルムポリイミド
フォトレジスト
ArFレジスト
実装材料
ダイアタッチフィルム封止材
  • Low-k誘電体(Black Diamond)でインターコネクト材料のパイオニア
  • 銅CMPスラリー・パッドの主要サプライヤー
Air Products米国

産業ガス・特殊ガスの世界大手。半導体向けにはWF₆・NF₃・GeH₄・特殊エッチングガスなど、成膜・エッチング・クリーニングの全工程を支える。

エッチングガス
NF₃F₂HF
成膜ガス
WF₆GeH₄NH₃
クリーニングガス
C₂F₆CF₄
  • 半導体向け特殊ガスのグローバルトップサプライヤー
  • Fabオンサイト供給システムによる安定ガス供給
Entegris米国

半導体材料インテグリティ管理の専業企業。ウェハキャリア(FOUP)・CMPスラリー・超純水フィルタ・ガス精製器など汚染制御製品でNo.1クラスのシェア。

CMPスラリー・パッド
Optima CMPスラリー研磨パッド
フィルタ・精製装置
超純水フィルタガス精製器
ウェハ搬送材料
FOUPウェハシッパー
  • 半導体用CMPスラリー・研磨材料のグローバルトップ(CMC Materials統合後)
  • 超純水・薬液フィルタで世界最高水準の汚染管理

関連カテゴリ

ALD/CVD前駆体材料
ボンディング材料
CMPスラリー
EUVレジスト
High-k絶縁膜
フォトマスクブランクス
フォトレジスト
半導体材料
特殊ガス・プロセスガス

関連用語

Low-k絶縁膜とは →銅配線(ダマシン法)とは →コバルト配線とは →ルテニウム配線とは →モリブデン配線とは →デュアルダマシンとは →バリアメタルとは →多層配線とは →裏面配線技術とは →メタルCMP(Cu・W)とは →

比較・違いを学ぶ

銅配線とコバルト・ルテニウム配線の違い(先端ノード配線材料の比較)
半導体の銅(Cu)配線は1997年にIBMが量産化して以来、ロジックチップの標準配線材料です。しかし5nm以下の先端ノードでは配線幅が10nm以下になり、銅の有
銅配線とアルミ配線の違い(半導体配線の比較)
アルミ配線は古くから使われた成膜+エッチングで形成する配線、銅配線は低抵抗・高信頼性を求めて導入されたダマシン(溝埋め込み)で形成する配線です。1990年代後半
Cu-CMPとW-CMPの違い(メタルCMPの比較)
メタルCMPは、配線を作るための「余分な金属を削り落とす」工程です。銅ダマシン配線の余剰Cu除去と、コンタクトプラグのタングステン除去という二大用途がありますが
ALDとPVDの違い(原子層成膜 vs スパッタ成膜)
ALD(Atomic Layer Deposition:原子層堆積)とPVD(Physical Vapor Deposition:物理気相成長)は、どちらも半導
← 半導体装置カテゴリ一覧に戻る