Ultra ECP mapとは
Ultra ECP map は、ACM Research の前工程向け電解めっき装置です。デュアルダマシン構造への銅めっきを主な用途とし、55nm/40nm/28nm/14nm 以降のテクノロジーノードに対応します。一般的な銅めっき用途にも展開できます。
300mm ウェーハ用で、最大 3 ロードポート、部分パルスめっきシステムを備えためっきチャンバー最大 4、洗浄チャンバー最大 4、アニールチャンバー最大 8 を搭載します。めっき均一性はウェーハ面内・ウェーハ間ともに 1.5% 未満です。
ACM 独自の多アノード部分めっき(Multi-Anode Partial Plating)機能でデュアルダマシン構造への優れた銅堆積を実現し、極薄シード層にも対応します。マルチゾーンアノード、ゴムシールのめっきチャック、部分パルスめっきに関する多数の特許に裏づけられ、消耗品コストと所有コストの低さを特長としています。
主な特長
- •多アノード部分めっき・部分パルスめっき
- •めっき均一性 1.5% 未満(面内・ウェーハ間)
- •めっき 4/洗浄 4/アニール 8 チャンバーまで搭載
- •極薄シード層に対応
主な仕様
| めっき方式 | 電解めっき(多アノード部分めっき) |
|---|---|
| 対応ウェハ径 | 300 mm |
| 特徴 | 極薄シード層に対応・部分パルスめっき(めっき均一性 1.5% 未満) |
| 主要用途 | 55/40/28/14 nm 以降のデュアルダマシン Cu 配線 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Applied MaterialsRaider® ECD | ACM ResearchUltra ECP map | Lam ResearchSABRE® 3D |
|---|---|---|---|
| めっき方式 | 電解めっき(多ゾーンアノード) | 電解めっき(多アノード部分めっき) | 電解めっき(クラムシェル・密閉ドライ接点) |
| 特徴 | 電流密度を動的に変える反応槽・イオン膜で薬液寿命を延長 | 極薄シード層に対応・部分パルスめっき(めっき均一性 1.5% 未満) | めっきセル・前後処理セルを組み合わせるモジュール構成、SnAg 薬液コストを低減 |
| 主要用途 | Cu 配線のシード・埋め込み | 55/40/28/14 nm 以降のデュアルダマシン Cu 配線 | TSV・RDL・Cu ピラー・マイクロバンプ |
| 対応ウェハ径 | 150 ~ 300 mm | 300 mm | — |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •デュアルダマシン Cu 配線(55〜14nm 以降)
- •一般的な銅めっき
掲載カテゴリ
Ultra ECP mapは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
ACM Research
半導体洗浄装置の米国メーカー。空間交互位相シフト(SAPS)と時間分解型(TEBO)のメガソニック技術で、微細パターンを壊さずに残渣を除去する枚葉洗浄装置を展開する。
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関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-06