ACM Research/めっき装置(電解銅めっき)

Ultra ECP map

前工程のデュアルダマシン向け Cu めっき装置。独自の多アノード部分めっき(MAP)機能を持つ。

Ultra ECP mapとは

Ultra ECP map は、ACM Research の前工程向け電解めっき装置です。デュアルダマシン構造への銅めっきを主な用途とし、55nm/40nm/28nm/14nm 以降のテクノロジーノードに対応します。一般的な銅めっき用途にも展開できます。

300mm ウェーハ用で、最大 3 ロードポート、部分パルスめっきシステムを備えためっきチャンバー最大 4、洗浄チャンバー最大 4、アニールチャンバー最大 8 を搭載します。めっき均一性はウェーハ面内・ウェーハ間ともに 1.5% 未満です。

ACM 独自の多アノード部分めっき(Multi-Anode Partial Plating)機能でデュアルダマシン構造への優れた銅堆積を実現し、極薄シード層にも対応します。マルチゾーンアノード、ゴムシールのめっきチャック、部分パルスめっきに関する多数の特許に裏づけられ、消耗品コストと所有コストの低さを特長としています。

主な特長

  • •多アノード部分めっき・部分パルスめっき
  • •めっき均一性 1.5% 未満(面内・ウェーハ間)
  • •めっき 4/洗浄 4/アニール 8 チャンバーまで搭載
  • •極薄シード層に対応

主な仕様

めっき方式電解めっき(多アノード部分めっき)
対応ウェハ径300 mm
特徴極薄シード層に対応・部分パルスめっき(めっき均一性 1.5% 未満)
主要用途55/40/28/14 nm 以降のデュアルダマシン Cu 配線

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目Applied MaterialsRaider® ECDACM ResearchUltra ECP mapLam ResearchSABRE® 3D
めっき方式電解めっき(多ゾーンアノード)電解めっき(多アノード部分めっき)電解めっき(クラムシェル・密閉ドライ接点)
特徴電流密度を動的に変える反応槽・イオン膜で薬液寿命を延長極薄シード層に対応・部分パルスめっき(めっき均一性 1.5% 未満)めっきセル・前後処理セルを組み合わせるモジュール構成、SnAg 薬液コストを低減
主要用途Cu 配線のシード・埋め込み55/40/28/14 nm 以降のデュアルダマシン Cu 配線TSV・RDL・Cu ピラー・マイクロバンプ
対応ウェハ径150 ~ 300 mm300 mm—

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •デュアルダマシン Cu 配線(55〜14nm 以降)
  • •一般的な銅めっき

掲載カテゴリ

Ultra ECP mapは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

ACM Research

半導体洗浄装置の米国メーカー。空間交互位相シフト(SAPS)と時間分解型(TEBO)のメガソニック技術で、微細パターンを壊さずに残渣を除去する枚葉洗浄装置を展開する。

ACM Research の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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関連用語

出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-06
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