Lam Research/めっき装置(電解銅めっき)

SABRE® 3D

前工程の技術を先端パッケージ向けに展開した電解めっき装置。モジュール構成で多様な WLP 工程に対応する。

SABRE 3Dとは

SABRE 3D は、Lam Research の先端パッケージ向け電解めっき装置です。ウェーハレベルパッケージ(WLP)や TSV 構造の電気的接続をつくる銅などの金属めっきに使われます。実績のある SABRE Electrofill 技術にさらなる革新を加えています。

WLP・TSV のめっきは BEOL のダマシン埋め込みと似ていますが、成膜量がオングストロームではなくミクロンの単位と桁違いに大きく、長い成膜時間と多段処理が必要です。高いめっき速度でのウェーハ面内均一性とダイ内のコプラナリティ、低コスト、低欠陥、ボイドのないマイクロバンプやはんだ接合が課題になります。

改良型のめっきセル技術でダイ内・ウェーハ面内の均一性を損なわずにめっき速度を上げ、複数のめっきセルと前後処理セルを組み合わせるモジュール構成でさまざまなパッケージ用途に対応します。SnAg めっき液のコストを大きく下げる技術も備えます。製品は SABRE 3D と SABRE 3D xT です。

主な特長

  • •高速めっきでもダイ内・面内均一性を維持
  • •めっきセル・前後処理セルを組み合わせるモジュール構成
  • •SnAg 薬液コストの低減
  • •SABRE 3D/SABRE 3D xT

主な仕様

めっき方式電解めっき(クラムシェル・密閉ドライ接点)
特徴めっきセル・前後処理セルを組み合わせるモジュール構成、SnAg 薬液コストを低減
主要用途TSV・RDL・Cu ピラー・マイクロバンプ

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目Applied MaterialsRaider® ECDACM ResearchUltra ECP mapLam ResearchSABRE® 3D
めっき方式電解めっき(多ゾーンアノード)電解めっき(多アノード部分めっき)電解めっき(クラムシェル・密閉ドライ接点)
特徴電流密度を動的に変える反応槽・イオン膜で薬液寿命を延長極薄シード層に対応・部分パルスめっき(めっき均一性 1.5% 未満)めっきセル・前後処理セルを組み合わせるモジュール構成、SnAg 薬液コストを低減
主要用途Cu 配線のシード・埋め込み55/40/28/14 nm 以降のデュアルダマシン Cu 配線TSV・RDL・Cu ピラー・マイクロバンプ
対応ウェハ径150 ~ 300 mm300 mm—

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •TSV・Cu ピラー・再配線層(RDL)・UBM
  • •C4 バンプ、Cu/SnAg・Ni/Au マイクロバンプ
  • •高密度ファンアウト(HDFO)

掲載カテゴリ

SABRE 3Dは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Lam Research

エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。

Lam Research の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-06
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