ChaMP211
量産ライン向けのCMP技術を小型機に載せた東京精密のCMP装置。φ100〜200mmに対応し、SiC・MEMS・マイクロLED・SAWフィルターなどの研磨を想定している。
ChaMP211とは
ChaMP211 は、東京精密が量産ラインで培った CMP 技術を小型機に載せた CMP 装置です。対応ウェーハは Φ100/150/200mm で、2〜8インチの研磨ヘッドを用意しています。
メーカーが想定する用途は SiC、MEMS、マイクロ LED、SAW フィルターなどのデバイスです。低価格・小フットプリントで、装置仕様の変更にも対応するため、研究開発から試作、量産まで同じ装置で進められます。
研磨ヘッドは上位機と同じエアフロート式「Sylphide」で、ウェーハ面内の均一な加圧、低圧での安定性、良好なエッジプロファイル制御を実現します。ウェーハローダと洗浄ユニットを搭載してフルオート運転ができ、白色光源の光学式終点検出システムで残膜の変化を検出します。
主な特長
- •Φ100〜200mm 対応の小型 CMP(低価格・小フットプリント)
- •エアフロートヘッド「Sylphide」(ゾーン制御はオプション)
- •ウェーハローダ・洗浄ユニット搭載でフルオート運転
- •白色光源の光学式終点検出(Optical End-Point Detection)
- •リテーナ・メンブレンのワンタッチ交換でダウンタイムを低減
主な仕様
| 位置づけ | 小型CMP装置 |
|---|---|
| 対応ウェハ径 | 100/150/200 mm(研磨ヘッドは2〜8インチ) |
| 研磨ヘッド | エアフロートヘッド「Sylphide」(ゾーン制御はオプション) |
| 対応範囲 | 研究開発・試作から量産まで(仕様変更に対応) |
| シリーズ構成 | ChaMP211/ChaMP232(200 mm)/ChaMP332(300 mm) |
| 主要用途 | SiC・MEMS・マイクロLED・SAWフィルターの研磨 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Applied MaterialsReflexion LK CMP | 荏原製作所F-REX300X | 東京精密(Accretech)ChaMP211 |
|---|---|---|---|
| 対応ウェハ径 | 300 mm | 300 mm | 100/150/200 mm(研磨ヘッドは2〜8インチ) |
| 主要用途 | Cuダマシン配線のCMP | Cu・W・バリアメタルの研磨 | SiC・MEMS・マイクロLED・SAWフィルターの研磨 |
1機種だけが掲載している項目(10件)
| 研磨・洗浄モジュール数 | 7(上位機 Reflexion LK Prime は 14) | — | — |
|---|---|---|---|
| 対象膜 | 銅配線・low-k絶縁膜 | — | — |
| 関連機種 | Reflexion LK Prime CMP(上位機種) | — | — |
| トップリング数 | — | 4 | — |
| ターンテーブル数 | — | 4 | — |
| 洗浄ユニット数 | — | 6 | — |
| 位置づけ | — | — | 小型CMP装置 |
| 研磨ヘッド | — | — | エアフロートヘッド「Sylphide」(ゾーン制御はオプション) |
| 対応範囲 | — | — | 研究開発・試作から量産まで(仕様変更に対応) |
| シリーズ構成 | — | — | ChaMP211/ChaMP232(200 mm)/ChaMP332(300 mm) |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •SiC・化合物基板の研磨
- •MEMS・マイクロ LED・SAW フィルターの平坦化
- •研究開発から少量量産まで
掲載カテゴリ
ChaMP211は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
よくある質問
ChaMP211 は SiC ウェーハの研磨に使えますか?
メーカーは SiC、MEMS、マイクロ LED、SAW フィルターなどのデバイスに最適としています。対応ウェーハは Φ100/150/200mm です。
メーカー
東京精密(Accretech)
日本の精密計測・半導体製造装置メーカー。ウェーハプロービングシステムおよびダイシング装置で高い技術力を誇る。
金属CMP装置のほかの製品
東京精密(Accretech)のほかの製品
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-05