T5511的特點與規格

T5511 是愛德萬測試的記憶體測試系統。目標是以單一平台，從設計到量產測試依繪圖、伺服器、用戶端、行動等用途各自演進的 DRAM。

最高測試速度為業界最高等級的 8Gbps，可從容應對高速 GDDR5-SDRAM 的測試。由於全測試腳位皆支援 8Gbps，即使高速測試也不會減少同測數。時序精度為 ±40ps。

以專用硬體實現 DDR4-SDRAM 與 GDDR5-SDRAM 量測所需的時序訓練功能與 CRC（循環冗餘檢查）碼產生功能，以提升產出並簡化程式撰寫。