最後更新:2026年10月23日記憶體測試系統

T5801的特點與規格

愛德萬測試(Advantest)・記憶體測試系統

可測試 GDDR7・LPDDR6・DDR6 等次世代超高速 DRAM 的記憶體測試系統。以 PAM3 支援 36Gbps。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

T5801 是愛德萬測試的記憶體測試系統。隨著 AI、HPC、邊緣應用需求擴大,記憶體日益複雜且高速,T5801 是支援 GDDR7、LPDDR6、DDR6 等超高速記憶體最新測試技術的先進平台。

以 3 階電壓表示訊號的 PAM3 方式可達 36Gbps,2 階的 NRZ 方式可達 18Gbps。採用前端單元(FEU)架構,提供業界最高水準的訊號完整性。

以硬體實現次世代 DRAM(LPDDR6、GDDR7、DDR6)及記憶體模組規格(MRDIMM、CAMM)測試所需的功能。透過彈性的測試單元,涵蓋從工程驗證到量產。

主要規格

測試速度PAM3 為 36Gbps・NRZ 為 18Gbps
對象GDDR7・LPDDR6・DDR6・MRDIMM・CAMM
架構前端單元(FEU)

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

PAM3 36Gbps・NRZ 18Gbps
FEU 架構帶來高訊號完整性
以硬體實現次世代 DRAM 功能

主要用途

  • GDDR7・LPDDR6・DDR6 測試
  • MRDIMM・CAMM 模組測試

製造商與在台據點

在台據點
  • 愛德萬測試(台灣)(新竹縣竹北市):1990 年成立的台灣子公司總部
  • 高雄據點(高雄):就近支援南部封測廠

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資料來源

  1. 愛德萬測試(Advantest)官方產品頁面:T5801