可測試 GDDR7・LPDDR6・DDR6 等次世代超高速 DRAM 的記憶體測試系統。以 PAM3 支援 36Gbps。
目錄5 項
- 產品概要
- 主要規格
- 主要特點
- 製造商與在台據點
- 資料來源
產品概要
T5801 是愛德萬測試的記憶體測試系統。隨著 AI、HPC、邊緣應用需求擴大,記憶體日益複雜且高速,T5801 是支援 GDDR7、LPDDR6、DDR6 等超高速記憶體最新測試技術的先進平台。
以 3 階電壓表示訊號的 PAM3 方式可達 36Gbps,2 階的 NRZ 方式可達 18Gbps。採用前端單元(FEU)架構,提供業界最高水準的訊號完整性。
以硬體實現次世代 DRAM(LPDDR6、GDDR7、DDR6)及記憶體模組規格(MRDIMM、CAMM)測試所需的功能。透過彈性的測試單元,涵蓋從工程驗證到量產。
主要規格
| 測試速度 | PAM3 為 36Gbps・NRZ 為 18Gbps |
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| 對象 | GDDR7・LPDDR6・DDR6・MRDIMM・CAMM |
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| 架構 | 前端單元(FEU) |
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規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
主要用途
- GDDR7・LPDDR6・DDR6 測試
- MRDIMM・CAMM 模組測試
製造商與在台據點
在台據點
- 愛德萬測試(台灣)(新竹縣竹北市):1990 年成立的台灣子公司總部
- 高雄據點(高雄):就近支援南部封測廠