記憶體測試系統是什麼

記憶體測試系統是對 DRAM、NAND 快閃記憶體等記憶體元件，反覆對所有位址進行寫入與讀取，以位元為單位檢出不良的自動測試設備。配備可產生 March 圖樣等的演算法圖樣產生器，記錄不良位元的位址，並產生替換至備援電路的修補（Repair）資訊。以 1台同時量測數百至數千顆的多平行量測為前提，降低每位元的測試成本是最重要的設計指標。

重點整理

對所有位址寫入・讀取，以位元為單位檢出不良
以演算法圖樣產生器產生 March 圖樣等
依不良位元的位址製作替換至備援電路的資訊
以數百至數千顆的多平行量測降低每位元成本

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