兼具預燒功能與記憶體單元測試功能的 DRAM・LPDDR 用記憶體測試系統。可同時測試 18,000 顆以上。
目錄5 項
- 產品概要
- 主要規格
- 主要特點
- 製造商與在台據點
- 資料來源
產品概要
H5620 是愛德萬測試針對先進 DRAM 與 LPDDR 的記憶體測試系統。為兼具預燒功能與記憶體單元測試功能的混合式解決方案。
隨著 5G 普及,以資料中心與行動裝置為中心的 DRAM 需求急速擴大,另一方面記憶體售價呈下滑趨勢,因此需要在提高產量的同時降低測試成本。
量產用 H5620 以 100MHz 頻率與最高 200Mbps 的資料傳輸率,可同時測試 18,000 顆以上元件,並支援工廠自動化。工程用 H5620ES 進行溫度控制以外的元件程式評估,減少對生產設備的占用。作業系統為 FutureSuite。
主要規格
| 同測數 | 18,432 顆(48 槽 × 384) |
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| 頻率 | 100MHz/200Mbps(授權後可達 200MHz/400Mbps) |
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| 產品線 | H5620(量產)・H5620ES(工程) |
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規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
製造商與在台據點
在台據點
- 愛德萬測試(台灣)(新竹縣竹北市):1990 年成立的台灣子公司總部
- 高雄據點(高雄):就近支援南部封測廠