最後更新:2026年10月23日記憶體測試系統

H5620的特點與規格

愛德萬測試(Advantest)・記憶體測試系統

兼具預燒功能與記憶體單元測試功能的 DRAM・LPDDR 用記憶體測試系統。可同時測試 18,000 顆以上。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

H5620 是愛德萬測試針對先進 DRAM 與 LPDDR 的記憶體測試系統。為兼具預燒功能與記憶體單元測試功能的混合式解決方案。

隨著 5G 普及,以資料中心與行動裝置為中心的 DRAM 需求急速擴大,另一方面記憶體售價呈下滑趨勢,因此需要在提高產量的同時降低測試成本。

量產用 H5620 以 100MHz 頻率與最高 200Mbps 的資料傳輸率,可同時測試 18,000 顆以上元件,並支援工廠自動化。工程用 H5620ES 進行溫度控制以外的元件程式評估,減少對生產設備的占用。作業系統為 FutureSuite。

主要規格

同測數18,432 顆(48 槽 × 384)
頻率100MHz/200Mbps(授權後可達 200MHz/400Mbps)
產品線H5620(量產)・H5620ES(工程)

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

整合預燒與單元測試
同測 18,432 顆
量產用/工程用 2 種機型

主要用途

  • DRAM・LPDDR 的預燒・單元測試

製造商與在台據點

在台據點
  • 愛德萬測試(台灣)(新竹縣竹北市):1990 年成立的台灣子公司總部
  • 高雄據點(高雄):就近支援南部封測廠

所屬設備分類

相關用語

同分類的其他機型

愛德萬測試(Advantest)的其他機型

資料來源

  1. 愛德萬測試(Advantest)官方產品頁面:H5620