T5835 是愛德萬測試的多功能記憶體測試系統。針對高速化與大容量化持續推進的次世代記憶體，實現較既有產品快 2 倍以上的測試速度與多顆同測。
以最高 5.4Gbps 的測試速度，廣泛涵蓋 NAND 快閃記憶體到 DDR-DRAM、LPDDR-DRAM 的封裝測試與高速晶圓測試。可同時量測 768 顆元件，以業界最高水準的產出降低測試成本。並配備針對行動記憶體提升響應速度的元件電源。
時序訓練、高速評估、失效分析功能也已擴大容量並提升速度。承襲 T5800 系列，可從評估用 STH、量產用 LTH、高速晶圓針測用 MTH 等機型中選擇配置。