T5230 是愛德萬測試針對非揮發性記憶體的測試系統。支援含 NAND 快閃記憶體在內的非揮發性記憶體元件晶圓測試與晶圓預燒試驗。
採用可對應各種測試單元型態的組合式陣列架構（Combined Array Architecture），在晶圓級預燒（WLBI）、內建自我測試（BIST）等晶圓測試中實現極高的成本效益。系統控制器可連接多個測試單元，各測試單元可獨立進行晶圓測試。
測試單元可連接一般的單晶圓針測機，也可連接 1 台多晶圓針測機，並可對接多連・多段配置的針測機。加快資料傳輸以縮短測試時間，作業系統採用 FutureSuite。