T5221 是愛德萬測試針對非揮發性記憶體的記憶體測試系統。支援 NAND 快閃記憶體等的晶圓測試與晶圓預燒試驗，透過內建於多站針測機中使用，節省測試廠房的占地面積。
將測試站內建於他廠多站針測機的各載台，由系統控制器獨立控制最多 12 台。除控制器外不增加占地面積，實現該公司非揮發性記憶體測試機中最高的空間效率。
晶圓測試中每台測試站最多可同時測試 1,152 顆。為因應 3D NAND 大容量化而增加的測試資料，加快了資料傳輸，測試時間較既有機種縮短。作業系統為實績豐富的 FutureSuite，由既有機種移植也很容易。