T5830 是愛德萬測試針對快閃記憶體的記憶體測試系統。具備針對快閃記憶體量產測試最佳化的資源與功能，因應 IoT 與穿戴式裝置普及而增加的需求。
在快閃記憶體的晶圓測試中，可在探針卡上不分歧資源，同時量測業界最多的 2,304 顆。封裝測試則以最高 800Mbps 的測試速度，同時量測最多 768 顆。
具備全腳位 I/O 配置、可即時控制的 3 值高電壓驅動器、支援 2,304 顆同測的元件電源等，適合快閃記憶體量產測試的功能。採用 T5800 共通平台，可從評估用 ES 到量產用 DSTH・QSTH 中選擇配置。