最後更新:2026年10月23日光學式晶圓檢測設備

Castor的特點與規格

科磊(KLA)・光學式晶圓檢測設備

面向矽基 OLED(OLEDoS)製造,以 1 次處理完成缺陷檢測・複檢・3D 量測的設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Castor 是科磊(KLA)的圖案化晶圓檢測・量測設備,是針對矽基 OLED(OLEDoS)製造中左右良率之課題的一體化解決方案。

以 1 次處理完成缺陷檢測、複檢與 3D 量測。從陽極層成膜到薄膜封裝、蓋板玻璃,以高靈敏度缺陷檢測與先進分類支援整個製程的品質管理。

在薄膜封裝(TFE)步驟中以非破壞方式快速量測埋藏缺陷的高度,迅速找出並解決製程問題。用於提升 VR、MR 等近眼顯示器所用超高解析度微型顯示器的良率。

主要規格

方式圖案化晶圓檢測+複檢+3D 量測
對象OLED on Silicon(OLEDoS)微型顯示器
特點薄膜封裝步驟中埋藏缺陷的高度量測

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

以 1 次處理完成檢測・複檢・3D 量測
埋藏缺陷的高度量測
OLEDoS 專用

主要用途

  • OLEDoS 微型顯示器的製程管理

製造商與在台據點

在台據點
  • 台灣總部(新竹縣竹北市):台元科技園區,2025 年啟用新辦公室與訓練中心
  • 各地據點(新竹・桃園・林口・台中・台南・高雄):就近支援各科學園區的客戶

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資料來源

  1. 科磊(KLA)官方產品頁面:KLA