Vera 是應用材料（Applied Materials）的明場圖案化晶圓檢測設備，屬於面向物聯網・通訊・車用・功率・感測器（ICAPS）的產品系列中的 1 款，為非先進節點的晶片製造商提供以 DUV 雷射光源進行的全面檢測。
隨著智慧化、聯網化產品增加，成熟節點專用半導體的需求持續成長。這類用途同時需要檢出影響良率的系統性缺陷，以及檢出影響可靠度的潛在缺陷。
以 Enlight 平台的架構為基礎，透過高 NA 光學系統、明場・灰場 2 通道檢測與新型檢測演算法，以低持有成本實現高解析度與高靈敏度。