最後更新:2026年10月23日光學式晶圓檢測設備

ComPLUS 5P Optical Inspection的特點與規格

應用材料(Applied Materials)・光學式晶圓檢測設備

面向 90nm 以下節點的光學式缺陷檢測設備。同時以暗場・灰場・明場檢測,用於 ICAPS・成熟邏輯的製程管理。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

ComPLUS 5P 是應用材料(Applied Materials)的光學式缺陷檢測設備,針對物聯網・通訊・車用・功率・感測器(ICAPS)與成熟邏輯領域中,邁向比 90nm 更微細節點的晶圓廠製程管理進行最佳化。

透過提升雷射輸出、光電倍增管、彈性照明、偏光控制與新型檢測像素提高訊雜比(S/N),找出左右良率的缺陷。

改良影像處理與載台,以暗場・灰場・明場同時檢測,因此比需要反覆多次檢測的方式更能壓低持有成本。

主要規格

檢測方式暗場・灰場・明場同時檢測
對象節點90nm 以下
主要用途ICAPS・成熟邏輯的缺陷檢測

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

暗場・灰場・明場同時檢測
高雷射輸出與光電倍增管
低持有成本

主要用途

  • ICAPS 元件的缺陷檢測
  • 成熟邏輯的製程管理

製造商與在台據點

在台據點
  • 新竹據點(新竹科學園區):1996 年進駐,技術研發中心
  • 台南據點(台南):製造中心與顯示器設備製造研發中心
  • 林口・台中據點(林口・台中):營運據點

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資料來源

  1. 應用材料(Applied Materials)官方產品頁面:Applied Materials ComPLUS