ComPLUS 5P 是應用材料(Applied Materials)的光學式缺陷檢測設備,針對物聯網・通訊・車用・功率・感測器(ICAPS)與成熟邏輯領域中,邁向比 90nm 更微細節點的晶圓廠製程管理進行最佳化。
透過提升雷射輸出、光電倍增管、彈性照明、偏光控制與新型檢測像素提高訊雜比(S/N),找出左右良率的缺陷。
改良影像處理與載台,以暗場・灰場・明場同時檢測,因此比需要反覆多次檢測的方式更能壓低持有成本。
面向 90nm 以下節點的光學式缺陷檢測設備。同時以暗場・灰場・明場檢測,用於 ICAPS・成熟邏輯的製程管理。
ComPLUS 5P 是應用材料(Applied Materials)的光學式缺陷檢測設備,針對物聯網・通訊・車用・功率・感測器(ICAPS)與成熟邏輯領域中,邁向比 90nm 更微細節點的晶圓廠製程管理進行最佳化。
透過提升雷射輸出、光電倍增管、彈性照明、偏光控制與新型檢測像素提高訊雜比(S/N),找出左右良率的缺陷。
改良影像處理與載台,以暗場・灰場・明場同時檢測,因此比需要反覆多次檢測的方式更能壓低持有成本。
| 檢測方式 | 暗場・灰場・明場同時檢測 |
|---|---|
| 對象節點 | 90nm 以下 |
| 主要用途 | ICAPS・成熟邏輯的缺陷檢測 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。