MicroSense KerrMapper 是科磊的磁性特性量測設備家族。利用縱向磁光克爾效應(MOKE),評估資料儲存、MRAM、磁感測器用磁性多層膜晶圓的磁性特性。
以非接觸的全晶圓量測,製作晶圓全面的磁性特性分布圖。有 KerrMapper S300 與 V300,皆可選擇手動上料與全自動配置。
以獨家的直接磁場控制技術,兼顧高磁場與低磁場下的解析度,1 台即可評估自由層與固定層的特性。也用於軟磁性膜與硬磁性膜多層膜的評估。
以縱向克爾效應繪製磁性多層膜晶圓磁性特性分布圖的設備。面向資料儲存・MRAM・磁感測器。
MicroSense KerrMapper 是科磊的磁性特性量測設備家族。利用縱向磁光克爾效應(MOKE),評估資料儲存、MRAM、磁感測器用磁性多層膜晶圓的磁性特性。
以非接觸的全晶圓量測,製作晶圓全面的磁性特性分布圖。有 KerrMapper S300 與 V300,皆可選擇手動上料與全自動配置。
以獨家的直接磁場控制技術,兼顧高磁場與低磁場下的解析度,1 台即可評估自由層與固定層的特性。也用於軟磁性膜與硬磁性膜多層膜的評估。
| 方式 | 縱向磁光克爾效應(MOKE)・非接觸 |
|---|---|
| 產品線 | KerrMapper S300・V300 |
| 主要用途 | 磁性多層膜的評估 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。