影像感測器測試系統是什麼
影像感測器測試系統是量測 CMOS 影像感測器、顯示驅動器等與光或顯示相關之元件特性的自動測試設備。影像感測器需搭配照射均勻光線的光學系統，以畫素為單位評估靈敏度、暗電流、缺陷畫素與色彩再現性。由於擷取的資料量極為龐大，需要高速的影像資料傳輸與即時影像處理能力，因此採用不同於一般邏輯 ATE 的專用架構。
重點整理
搭配光學系統，以畫素為單位評估靈敏度、暗電流、缺陷畫素
也用於顯示驅動 IC 的顯示特性評估
擷取的資料量隨畫素數成比例變得極為龐大
採用專為高速影像資料傳輸與即時處理設計的專用架構
相關用語
比較文章
半導體測試設備的其他分類
類比・線性測試系統
類比・線性測試系統是針對運算放大器、電源 IC、驅動 IC 等以線性電路為主體的元件，量測其電氣特性的自動測試設備。
最終測試設備最終測試（Final Test）是對完成封裝的半導體元件，在出貨前進行最終電氣特性檢測的製程。
邏輯測試系統邏輯測試系統是對 SoC、微控制器、FPGA 等以數位邏輯電路為主體的元件，高速施加大量測試圖樣並與期望值比對的自動測試設備（ATE）。
記憶體測試系統記憶體測試系統是對 DRAM、NAND 快閃記憶體等記憶體元件，反覆對所有位址進行寫入與讀取，以位元為單位檢出不良的自動測試設備。
混合訊號測試系統混合訊號測試系統是以 1台設備一次量測數位電路與類比／RF 電路整合於同一晶片之混合訊號元件的自動測試設備。
封裝外觀・凸塊檢測設備封裝外觀・凸塊檢測設備是以光學方式檢測、量測後段製程所製作之凸塊、重布線與封裝外觀的設備。
功率元件測試機功率元件測試機是量測 MOSFET、IGBT、二極體等功率元件電氣特性的設備。
系統級測試（SLT）設備系統級測試（SLT）設備是將完成最終測試的處理器等元件，裝載於接近實際產品的電路板上，執行作業系統（OS）與應用程式，以確認其是否正常運作的設備。
晶圓針測機晶圓針測機（Wafer Prober）是在切割前的晶圓狀態下，檢測所有晶片電氣特性的設備。