IP750Ex-HD

CCD／CMOS イメージセンサー向けの第4世代テストシステム。照明装置を統合し、ToF センサーにも対応する。

IP750Ex-HDとは

IP750Ex-HD は、テラダインのイメージセンサー向けテストシステムです。CCD と CMOS センサー向けの第4世代のテストプラットフォームで、ウェーハと実装後のデバイスの両方の試験に使えます。

計測器あたり 40Gbps の画像データ転送を持ち、MIPI D-PHY（2.5Gbps）、C-PHY（2.5Gsps）、M-PHY（6.0Gbps）の画像キャプチャに対応します。独自 LVDS プロトコルにも対応する点は市場で唯一としています。64 ビットの画像データ処理で高解像度デバイスに対応し、VGA から 1 億画素を超えるセンサーまで試験できます。

最大 80 サイトの並列試験に対応し、150×160mm の照明装置をサポートします。J750Ex-HD の計測器と互換があり、ソフトウェアは IG-XL です。スマートフォンやデジタルカメラ、ToF センサー、3D センシング・AR／VR、車載 ADAS、指紋認証カメラ、監視カメラ向けのイメージセンサーの試験に使われます。

主な特長

•計測器あたり 40Gbps の画像データ転送
•MIPI D-PHY・C-PHY・M-PHY、独自 LVDS に対応
•最大 80 サイト並列、VGA〜1 億画素超
•J750Ex-HD 計測器と互換、IG-XL

主な仕様

対応デバイス	CCD・CMOS イメージセンサー・ToF センサー
同時測定数	最大 32 サイト
システム構成	照明装置（イルミネータ）内蔵
主要用途	イメージセンサーの低コスト量産テスト

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目	アドバンテストT2000 イメージセンサテストソリューション	Teradyne（テラダイン）IP750Ex-HD	ウインテストWTS-311NX
対応デバイス	CMOS イメージセンサー	CCD・CMOS イメージセンサー・ToF センサー	ハイエンド CCD・CMOS イメージセンサー
同時測定数	1 モジュールあたり 4 デバイス	最大 32 サイト	複数デバイス同時測定
システム構成	空冷 13 スロット～液冷 52 スロット・最大 8,192ch	照明装置（イルミネータ）内蔵	ウェーハ／ファイナル検査兼用
主要用途	スマートフォン・車載カメラ用 CIS の量産テスト	イメージセンサーの低コスト量産テスト	イメージセンサーのウェーハ・ファイナル検査