ATL100(Accurate Tunable Laser)是科磊(KLA)的散射量測方式疊對(Overlay)量測設備。用於 7nm 以下節點開發與量產中的疊對管理。
結合解析度 1nm 的波長可調雷射技術與即時 Homing 功能,即使製程存在變異,仍能維持高疊對精度。
支援包含晶粒內與小間距在內的多種散射量測用標靶,配合製程層、元件種類、節點與圖形化技術的差異,準確量測疊對誤差。
使用波長可調雷射的散射量測(scatterometry)方式疊對量測設備。針對 7nm 以下的節點。
ATL100(Accurate Tunable Laser)是科磊(KLA)的散射量測方式疊對(Overlay)量測設備。用於 7nm 以下節點開發與量產中的疊對管理。
結合解析度 1nm 的波長可調雷射技術與即時 Homing 功能,即使製程存在變異,仍能維持高疊對精度。
支援包含晶粒內與小間距在內的多種散射量測用標靶,配合製程層、元件種類、節點與圖形化技術的差異,準確量測疊對誤差。
| 方式 | 散射量測疊對量測(波長可調雷射・解析度 1nm) |
|---|---|
| 對象節點 | 7nm 以下 |
| 特點 | 即時 Homing・支援晶粒內/小間距標靶 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。