最後更新:2026年10月23日疊對量測設備

ATL100的特點與規格

科磊(KLA)・疊對量測設備

使用波長可調雷射的散射量測(scatterometry)方式疊對量測設備。針對 7nm 以下的節點。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

ATL100(Accurate Tunable Laser)是科磊(KLA)的散射量測方式疊對(Overlay)量測設備。用於 7nm 以下節點開發與量產中的疊對管理。

結合解析度 1nm 的波長可調雷射技術與即時 Homing 功能,即使製程存在變異,仍能維持高疊對精度。

支援包含晶粒內與小間距在內的多種散射量測用標靶,配合製程層、元件種類、節點與圖形化技術的差異,準確量測疊對誤差。

主要規格

方式散射量測疊對量測(波長可調雷射・解析度 1nm)
對象節點7nm 以下
特點即時 Homing・支援晶粒內/小間距標靶

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

波長可調雷射(解析度 1nm)
即時 Homing
支援晶粒內・小間距標靶

主要用途

  • 產品上的疊對管理
  • 曝光機的認證・圖形化管理

製造商與在台據點

在台據點
  • 台灣總部(新竹縣竹北市):台元科技園區,2025 年啟用新辦公室與訓練中心
  • 各地據點(新竹・桃園・林口・台中・台南・高雄):就近支援各科學園區的客戶

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資料來源

  1. 科磊(KLA)官方產品頁面:KLA