ATPG（Automatic Test Pattern Generation：自動測試圖樣產生）是以電路的網表與故障模型為輸入，由EDA工具自動產生可偵測製造缺陷之測試圖樣的技術。對數億電晶體規模的晶片以人工撰寫測試圖樣是不可能的，現代數位電路的測試是以ATPG為前提才得以成立。
產生的思路是每次針對1個假設的故障，搜尋能將其「激發」並「傳遞到觀測點」的輸入值。例如要偵測某條導線固定為1的故障，必須給予使該導線為0的輸入（激發），並確保這個值的差異能傳遞到輸出或掃描正反器的路徑（傳遞）。這項搜尋以D演算法或PODEM等方法求解。
ATPG與掃描測試密不可分。若只有組合邏輯電路，搜尋相對容易，但在循序邏輯電路中，為了建立內部狀態需要很長的輸入序列。只要以掃描鏈讓所有正反器都能從外部直接設定與觀測，就能把問題化約為組合邏輯電路的測試產生，在實際可行的時間內產生圖樣。這就是DFT讓ATPG成為可能的關係。
產生結果的評估指標有故障涵蓋率與圖樣數這2項。涵蓋率越高，良品保證越確實；但圖樣數增加會使測試時間與測試機記憶體用量增加，反映在成本上。因此標準做法是以壓縮技術（測試壓縮）在內部展開掃描鏈，將外部給予的資料量削減1個數量級以上。
針對的故障模型也有多種。除了最基本的固定型故障之外，還有假設導線間短路的橋接故障，以及鎖定只在實際速度下才會出現之時序不良的轉態故障、路徑延遲故障等；隨著微縮，後者的重要性日益提高。工具由新思科技（Synopsys）、益華電腦（Cadence）與Siemens EDA提供。