最後更新：2026年10月8日測試・可靠度測試設備中國大陸：内建自测试（BIST）

BIST（內建自我測試）是什麼

Built-In Self-Test

BIST（內建自我測試）是在晶片內部建置測試用電路，讓晶片自行產生測試圖樣並判定結果的可測試性設計（DFT）技術。它能降低對昂貴外部測試機（ATE）的依賴，而且不只在製造時，出貨後於開機等時機也能進行自我診斷，因此在車用等高可靠度應用中特別受到重視。

目錄5 項

定義與原理

BIST（Built-In Self-Test：內建自我測試）是在晶片內部建置測試用電路，讓晶片自行產生測試圖樣並判定結果的可測試性設計（DFT）技術。其特點是能降低對昂貴外部測試機（ATE）的依賴，而且不只在製造時，產品出貨後在現場（如開機時）也能進行自我診斷。

代表性的類型有以記憶體為對象的 MBIST（Memory BIST），以及以邏輯電路為對象的 LBIST（Logic BIST）。MBIST 對內建 SRAM/DRAM 寫入並讀出固定圖樣以偵測不良；LBIST 則以虛擬亂數圖樣測試邏輯電路，再將響應壓縮後進行判定。

BIST 的優點包括：縮短測試時間並降低 ATE 成本、可測試內建記憶體等難以從外部直接存取的電路，以及能對應車用功能安全（ISO 26262）所要求的運作中自我診斷。另一方面，測試電路會帶來額外的面積負擔（overhead）。

相對於掃描測試由外部施加測試圖樣，BIST 則是自成一體完成測試。兩者經常搭配使用，可搭配 dft、掃描測試、ate、sram 各條目一起閱讀，以掌握測試設計的全貌。相關工具由新思科技（Synopsys）、益華電腦（Cadence）等公司提供。

BIST 有哪些優點？

由於晶片可自行執行測試，不必仰賴昂貴的外部測試機（ATE），因此能降低測試成本並縮短測試時間。此外，所需的測試接腳較少、容易進行實速（at-speed）測試，出貨後在現場也能進行自我診斷，這些都是其主要優點。

MBIST 與 LBIST 有何不同？

MBIST（Memory BIST）以晶片內建的 SRAM 或 DRAM 為對象，透過寫入並讀出規則性的圖樣來進行檢測。LBIST（Logic BIST）以隨機邏輯為對象，用虛擬亂數產生器產生圖樣，再將響應壓縮後進行判定。兩者的用途與電路架構不同。

BIST 在哪些領域受到重視？

在車用（ISO 26262）與工業設備等要求功能安全的領域。由於可在點火啟動時或定期執行 BIST 來自我診斷故障，能持續確保系統的安全性。