邊界掃描是在晶片各輸入輸出腳位的內側配置移位暫存器（邊界掃描單元），將其串接成鏈，使其可從外部依序讀寫的測試結構。它已標準化為IEEE 1149.1，並依推動標準化的團體名稱而又稱為JTAG。
最大的用途是電路板組裝後的連接檢查。將晶片組裝到印刷電路板後，不必接觸實體測試針，就能確認相鄰焊點是否橋接、是否未連接（開路）。對BGA這類端子隱藏在電路板背面的封裝而言，原理上無法從外部下針檢查，因此這套機制實際上是唯一的檢查手段。
介面僅由稱為TAP（Test Access Port，測試存取埠）的4～5條訊號線（TCK、TMS、TDI、TDO，以及選用的TRST）構成。以這麼少的腳位數，透過指令暫存器切換動作模式，存取邊界掃描鏈或內部的掃描鏈。腳位數極少，正是這項標準得以廣泛普及的原因之一。
除了連接檢查之外，用途也持續擴大。TAP也作為啟動內部掃描測試或BIST、除錯，以及FPGA或快閃記憶體燒錄（線上燒錄，In-System Programming）的入口，在量產測試與現場除錯兩方面都已成為標準的存取手段。在3D堆疊與小晶片（Chiplet）中，也應用於裸晶間的連接檢查。
要注意的是，邊界掃描檢查的主要是「有沒有連通」，晶片內部邏輯能否正確動作則由內部掃描測試或ATPG圖樣負責。兩者目的不同、屬於互補關係，只是共用TAP這個共同入口而已。