故障涵蓋率（測試涵蓋率）是表示在假設的故障模型中，能以該測試圖樣偵測出的比例之指標。例如固定型故障涵蓋率99%，代表在電路中可定義的固定型故障中，有99%能被偵測出來。它是將測試品質予以量化的最基本數值。
重要的是，涵蓋率是「假設之故障模型範圍內的事」。即使固定型故障涵蓋率為100%，也偵測不到時序引起的不良或微小的漏電流不良。因此實務上會對固定型故障、轉態故障、橋接故障等多種模型分別確保涵蓋率，並再結合IDDQ測試或SLT（系統級測試）來堵住漏洞。
涵蓋率的數字直接影響出貨品質。偵測不到的不良會以「測試逃逸（test escape）」的形式流入市場，呈現為DPPM（每100萬個中的不良數）。大致而言，涵蓋率從99%提升到99.9%，流出量就會下降1個數量級；在車用等要求極低DPPM的用途中，投資拉高涵蓋率最後0.1%是合理的。
提高涵蓋率是有成本的。圖樣數增加會延長測試時間，加入DFT電路則會增加晶片面積與功耗。要減少不可測故障（電路結構上無法從外部控制也無法觀測的位置），就必須重新檢討設計本身。要做到什麼程度，取決於產品要求的品質與測試成本之間的平衡。
在設計階段由EDA工具計算涵蓋率，未達目標時，便採取增加DFT結構或插入測試點等對策。涵蓋率也是設計品質的審查項目，未達目標值可作為暫停設計定案（tape-out）的判斷依據。