ICOS T3／T7的特點與規格

ICOS T3／T7 系列是科磊的已封裝 IC 元件全自動光學檢測設備。T3 以托盤輸出，T7 以捲帶輸出。

提高對微小缺陷的靈敏度，並結合準確、再現性高的 3D 量測，找出影響最終封裝品質的問題。以採用深度學習演算法的 AI，快速且彈性地分類缺陷種類。

T3 與 T7 共用平台，可切換托盤輸出與捲帶輸出，因此能配合環境變化有效運用設備。用於 TQFP、QFP、BGA、CSP、WLP 等各種封裝的出貨品質管理。