Prexa SDP（Singulated Device Prober）是東京威力科創（TEL）的單粒化元件測試設備。在 Prexa 等晶圓針測機所累積的多樣應用與高可靠度平台上，導入了針對高發熱元件的獨家溫度控制技術。
可處理 2 × 2mm 至 100 × 100mm 的單粒化元件，實現確實的元件傳送與準確的 KGD（保證良品的晶片）篩選。
採用線性馬達載台，XY 針測精度為 ±1.5µm，針測荷重為 500kg。
Prexa SDP的特點與規格
東京威力科創（TEL）・最終測試設備
測試單粒化元件的東京威力科創針測機。具備針對高發熱元件的獨家溫度控制。
產品概要
主要規格
| 對象 | 單粒化元件（2 × 2～100 × 100 mm） |
|---|---|
| XY 精度 | ±1.5µm |
| 針測荷重 | 500 kg |
規格依廠商公開資料整理，實際規格與選配請以廠商資料為準。
主要特點
單粒化元件的測試
高發熱元件的溫度控制
準確的 KGD 篩選
主要用途
- 小晶片（Chiplet）・先進封裝的 KGD 篩選
製造商與在台據點
在台據點
- 台灣東京威力科創（新竹）：台灣子公司（1996 年成立）。設有訓練中心，並規劃擴建無塵室
- 台南營運中心（台南）：動工時預計 2024 年下半年完工，樓地板面積約 3.5 萬平方公尺，可容納近千名員工，負責零組件處理、技術服務與維修