最後更新:2026年10月23日最終測試設備

Titan的特點與規格

泰瑞達(Teradyne)・最終測試設備

行動應用處理器的系統級測試(SLT)平台,以非同步插槽架構實現比傳統批次方式高 30% 的處理量。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Titan 是泰瑞達(Teradyne)的非同步系統級測試(SLT)平台。在需要最高系統性能測試的環境中,提供最大的彈性、擴充性與密度,是面向行動應用處理器量產 SLT 的解決方案。

隨著製程微縮,IC 已成為包含核心處理器、類比・數位 I/O、數據機等 IP 與嵌入式軟體的 SoC。在晶圓測試與封裝測試之後,以第 3 道測試進行 SLT,即可將軟體與硬體一起測試,並確認 IP 區塊間的連接。

以非同步插槽架構實現比傳統批次方式高 30% 的產能,降低多品項產品的測試成本。

主要規格

方式非同步插槽的系統級測試
效果產能較批次方式提升 30%
對象行動應用處理器

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

非同步插槽架構
產能較批次方式高 30%
軟體與硬體一起測試

主要用途

  • 行動 SoC 的系統級測試

製造商

泰瑞達(Teradyne)(總部:美國)

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資料來源

  1. 泰瑞達(Teradyne)官方產品頁面:Teradyne Titan