Titan 是泰瑞達(Teradyne)的非同步系統級測試(SLT)平台。在需要最高系統性能測試的環境中,提供最大的彈性、擴充性與密度,是面向行動應用處理器量產 SLT 的解決方案。
隨著製程微縮,IC 已成為包含核心處理器、類比・數位 I/O、數據機等 IP 與嵌入式軟體的 SoC。在晶圓測試與封裝測試之後,以第 3 道測試進行 SLT,即可將軟體與硬體一起測試,並確認 IP 區塊間的連接。
以非同步插槽架構實現比傳統批次方式高 30% 的產能,降低多品項產品的測試成本。
行動應用處理器的系統級測試(SLT)平台,以非同步插槽架構實現比傳統批次方式高 30% 的處理量。
Titan 是泰瑞達(Teradyne)的非同步系統級測試(SLT)平台。在需要最高系統性能測試的環境中,提供最大的彈性、擴充性與密度,是面向行動應用處理器量產 SLT 的解決方案。
隨著製程微縮,IC 已成為包含核心處理器、類比・數位 I/O、數據機等 IP 與嵌入式軟體的 SoC。在晶圓測試與封裝測試之後,以第 3 道測試進行 SLT,即可將軟體與硬體一起測試,並確認 IP 區塊間的連接。
以非同步插槽架構實現比傳統批次方式高 30% 的產能,降低多品項產品的測試成本。
| 方式 | 非同步插槽的系統級測試 |
|---|---|
| 效果 | 產能較批次方式提升 30% |
| 對象 | 行動應用處理器 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
泰瑞達(Teradyne)(總部:美國)