系統級測試（SLT）設備是什麼
系統級測試（SLT）設備是將完成最終測試的處理器等元件，裝載於接近實際產品的電路板上，執行作業系統（OS）與應用程式，以確認其是否正常運作的設備。用來找出 ATE 的結構測試與功能測試無法完全涵蓋、只在實際使用的動作條件下才會出現的不良。由於每顆元件的測試時間很長，可平行且非同步測試大量元件的插槽（Slot）架構，以及發熱量大之元件的溫度控制，是設備的要點。
重點整理
在接近實際產品的電路板上執行 OS・應用程式以確認動作
找出 ATE 結構測試・功能測試遺漏的不良
測試時間長，因此以大量元件的平行・非同步測試為基本
AI・HPC 用的大功率元件，溫度控制很重要
在小晶片中也用於確保 KGD（已知良品晶粒）
常見問題
SLT 與 ATE 的最終測試有什麼不同？
ATE 是輸入測試圖樣，在短時間內檢測電路的結構與功能。SLT 則與實際產品一樣讓元件運作，雖然耗時，但能找出只在執行軟體時才出現的不良，以及零件之間相互作用造成的不良。兩者不是替代關係，而是互補關係。
為什麼 SLT 愈來愈多？
處理器與 AI 加速器的電路極為龐大，僅靠 ATE 的圖樣愈來愈難涵蓋所有動作。此外，由於在 1個封裝內搭載昂貴的 HBM 與多顆晶片，出貨不良品時的損失也愈來愈大。因此在最終階段導入 SLT 的產品日益增加。
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