Iris 100
マイクロ LED のアレイの各エミッタを測る、量産向けの光学テストプラットフォーム。UltraFLEXplus と統合する。
Iris 100とは
Iris 100 は、Teradyne のマイクロ LED デバイス向けの量産用光学テストプラットフォームです。アレイの個々のエミッタをすべて測り、UltraFLEXplus と直接統合して光と電気を一緒に試験することで、半導体グレードの光学試験をマイクロ LED の製造に持ち込みます。
ウェーハ試験とファイナルテストに対応し、すでに運用している装置群に光学試験を加えられます。分光器と高解像度カメラで、アレイの分光応答と画素ごとの輝度・均一性を測ります。
試験の並列化と画像処理のアルゴリズムで、マイクロ LED アレイ全体を高スループットで評価します。広く使われている IG-XL ソフトウェアで、点灯しない・点きっぱなしの画素やクラスタ欠陥などの光学欠陥を製造の早い段階で検出します。NIST にトレーサブルな校正で絶対測定ができます。
主な特長
- •エミッタごとの光学測定
- •光と電気の統合試験
- •IG-XL による欠陥検出
主な仕様
| 方式 | エミッタごとの光学測定(分光器+高解像度カメラ) |
|---|---|
| 連携 | UltraFLEXplus による光・電気の統合試験 |
| 工程 | ウェーハ試験・ファイナルテスト |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | アドバンテストT2000 イメージセンサテストソリューション | Teradyne(テラダイン)IP750Ex-HD | Teradyne(テラダイン)Iris 100 | ウインテストWTS-311NX |
|---|---|---|---|---|
| 対応デバイス | CMOS イメージセンサー | CCD・CMOS イメージセンサー・ToF センサー | — | ハイエンド CCD・CMOS イメージセンサー |
| 同時測定数 | 1 モジュールあたり 4 デバイス | 最大 32 サイト | — | 複数デバイス同時測定 |
| システム構成 | 空冷 13 スロット ~ 液冷 52 スロット・最大 8,192ch | 照明装置(イルミネータ)内蔵 | — | ウェーハ/ファイナル検査兼用 |
| 主要用途 | スマートフォン・車載カメラ用 CIS の量産テスト | イメージセンサーの低コスト量産テスト | — | イメージセンサーのウェーハ・ファイナル検査 |
1機種だけが掲載している項目(4件)
| インターフェース | D-PHY 2.1(4.8 Gbps)・C-PHY 1.2(3.5 Gsps) | — | — | — |
|---|---|---|---|---|
| 方式 | — | — | エミッタごとの光学測定(分光器+高解像度カメラ) | — |
| 連携 | — | — | UltraFLEXplus による光・電気の統合試験 | — |
| 工程 | — | — | ウェーハ試験・ファイナルテスト | — |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •マイクロ LED のウェーハ・ファイナル試験
掲載カテゴリ
Iris 100は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Teradyne(テラダイン)
ATE(自動テスト装置)の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
イメージセンサテストシステムのほかの製品
Teradyne(テラダイン)のほかの製品
UltraFLEXplus(ロジックテストシステム)Magnum EPIC(メモリテストシステム)UltraFLEX(最終テスト装置)ETS-800(混在型テストシステム)IP750Ex-HD(イメージセンサテストシステム)ETS-364(アナログ・リニアテストシステム)ETS-88(アナログ・リニアテストシステム)Magnum V(メモリテストシステム)Magnum 2(メモリテストシステム)Magnum 7(メモリテストシステム)Magnum VUy(メモリテストシステム)Magnum 7H(メモリテストシステム)Magnum E2(メモリテストシステム)J750Ex-HD(ロジックテストシステム)Titan(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Titan HP(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Photon 100(混在型テストシステム)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07