Teradyne(テラダイン)/最終テスト装置

Titan HP(システムレベルテスト)

AI・クラウド向けデバイスのシステムレベルテスト(SLT)プラットフォーム。アクティブサーマルコントロールで大電力デバイスに対応する。

Titan HPとは

Titan HP は、Teradyne の高性能なシステムレベルテスト(SLT)ソリューションです。次世代の AI とクラウドインフラ向けのデバイスを、実際の動作モード(ミッションモード)で試験します。

複数の顧客の量産で使われている SLT プラットフォームで、最高水準のシステム性能の試験が必要な環境で柔軟性、拡張性、密度を提供します。

消費電力と発熱が大きい AI・クラウド向けのデバイスには効率的な熱制御が必要です。Titan HP は高度なアクティブサーマルコントロール(ATC)で過熱や焼損を防ぎながら、試験時間とフローを最適化します。デバイスあたりの kW 級の電力供給と、サイトごとの優れた熱制御を持ちます。

主な特長

  • •AI・クラウド向け SLT
  • •アクティブサーマルコントロール
  • •デバイスあたり kW 級の電力供給

主な仕様

方式システムレベルテスト(ミッションモード試験)
温度制御アクティブサーマルコントロール(ATC)
対象AI・クラウドインフラ向けデバイス

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目アドバンテストT2000アドバンテスト7038(システムレベルテスト)Teradyne(テラダイン)UltraFLEXTeradyne(テラダイン)Titan(システムレベルテスト)Teradyne(テラダイン)Titan HP(システムレベルテスト)東京エレクトロン(TEL)Prexa™ SDPKLAICOS™ F260KLAICOS™ T3/T7DISCODIS100(インスペクションシステム)
方式———非同期スロットのシステムレベルテストシステムレベルテスト(ミッションモード試験)—ダイ選別+全自動検査全自動光学検査+3D 計測—
対象———モバイル向けアプリケーションプロセッサAI・クラウドインフラ向けデバイス個片化デバイス(2 × 2〜100 × 100 mm)—TQFP・QFP・BGA・CSP・WLP など—
対応デバイスSoC(デジタル・アナログ・パワー混載・イメージ)—SoC・高性能プロセッサ・アナログ主体品——————
主要用途民生向け SoC の量産テスト—モバイル・ネットワーク・ストレージ・プロセッサの量産テスト——————
1機種だけが掲載している項目(17件)
構成空冷 9 スロット ~ 液冷 52 スロット、最大 8,192 ch————————
主なモジュール1.6GDM・8GDM(デジタル)・DSP192A(電源)・GPWGD(アナログ)————————
同時測定—最大 720 個———————
スループット—5,000 UPH———————
機能—PoP 両面コンタクト・温度試験・SCAN/LBIST/MBIST———————
ソフトウェア——IG-XL——————
関連機種——UltraFLEXplus(後継)——————
効果———バッチ方式比 30% のスループット向上—————
温度制御————アクティブサーマルコントロール(ATC)————
XY 精度—————±1.5µm———
プロービング荷重—————500 kg———
検査モジュール——————短波長赤外(SWIR)・レーザー溝検査——
ワークフロー——————ウェーハ→テープ・テープ→テープ——
出力———————トレイ(T3)・テープ(T7)—
対応ウェハ径————————Φ200/300 mm
対応チップ————————2 mm 角以上
測定————————厚さ・チッピング・裏面粗さ・3 点曲げ抗折強度

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •AI プロセッサのシステムレベルテスト

掲載カテゴリ

Titan HPは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Teradyne(テラダイン)

ATE(自動テスト装置)の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。

Teradyne(テラダイン) の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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関連用語

出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07
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