Titan HP(システムレベルテスト)
AI・クラウド向けデバイスのシステムレベルテスト(SLT)プラットフォーム。アクティブサーマルコントロールで大電力デバイスに対応する。
Titan HPとは
Titan HP は、Teradyne の高性能なシステムレベルテスト(SLT)ソリューションです。次世代の AI とクラウドインフラ向けのデバイスを、実際の動作モード(ミッションモード)で試験します。
複数の顧客の量産で使われている SLT プラットフォームで、最高水準のシステム性能の試験が必要な環境で柔軟性、拡張性、密度を提供します。
消費電力と発熱が大きい AI・クラウド向けのデバイスには効率的な熱制御が必要です。Titan HP は高度なアクティブサーマルコントロール(ATC)で過熱や焼損を防ぎながら、試験時間とフローを最適化します。デバイスあたりの kW 級の電力供給と、サイトごとの優れた熱制御を持ちます。
主な特長
- •AI・クラウド向け SLT
- •アクティブサーマルコントロール
- •デバイスあたり kW 級の電力供給
主な仕様
| 方式 | システムレベルテスト(ミッションモード試験) |
|---|---|
| 温度制御 | アクティブサーマルコントロール(ATC) |
| 対象 | AI・クラウドインフラ向けデバイス |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | アドバンテストT2000 | アドバンテスト7038(システムレベルテスト) | Teradyne(テラダイン)UltraFLEX | Teradyne(テラダイン)Titan(システムレベルテスト) | Teradyne(テラダイン)Titan HP(システムレベルテスト) | 東京エレクトロン(TEL)Prexa™ SDP | KLAICOS™ F260 | KLAICOS™ T3/T7 | DISCODIS100(インスペクションシステム) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 方式 | — | — | — | 非同期スロットのシステムレベルテスト | システムレベルテスト(ミッションモード試験) | — | ダイ選別+全自動検査 | 全自動光学検査+3D 計測 | — |
| 対象 | — | — | — | モバイル向けアプリケーションプロセッサ | AI・クラウドインフラ向けデバイス | 個片化デバイス(2 × 2〜100 × 100 mm) | — | TQFP・QFP・BGA・CSP・WLP など | — |
| 対応デバイス | SoC(デジタル・アナログ・パワー混載・イメージ) | — | SoC・高性能プロセッサ・アナログ主体品 | — | — | — | — | — | — |
| 主要用途 | 民生向け SoC の量産テスト | — | モバイル・ネットワーク・ストレージ・プロセッサの量産テスト | — | — | — | — | — | — |
1機種だけが掲載している項目(17件)
| 構成 | 空冷 9 スロット ~ 液冷 52 スロット、最大 8,192 ch | — | — | — | — | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 主なモジュール | 1.6GDM・8GDM(デジタル)・DSP192A(電源)・GPWGD(アナログ) | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 同時測定 | — | 最大 720 個 | — | — | — | — | — | — | — |
| スループット | — | 5,000 UPH | — | — | — | — | — | — | — |
| 機能 | — | PoP 両面コンタクト・温度試験・SCAN/LBIST/MBIST | — | — | — | — | — | — | — |
| ソフトウェア | — | — | IG-XL | — | — | — | — | — | — |
| 関連機種 | — | — | UltraFLEXplus(後継) | — | — | — | — | — | — |
| 効果 | — | — | — | バッチ方式比 30% のスループット向上 | — | — | — | — | — |
| 温度制御 | — | — | — | — | アクティブサーマルコントロール(ATC) | — | — | — | — |
| XY 精度 | — | — | — | — | — | ±1.5µm | — | — | — |
| プロービング荷重 | — | — | — | — | — | 500 kg | — | — | — |
| 検査モジュール | — | — | — | — | — | — | 短波長赤外(SWIR)・レーザー溝検査 | — | — |
| ワークフロー | — | — | — | — | — | — | ウェーハ→テープ・テープ→テープ | — | — |
| 出力 | — | — | — | — | — | — | — | トレイ(T3)・テープ(T7) | — |
| 対応ウェハ径 | — | — | — | — | — | — | — | — | Φ200/300 mm |
| 対応チップ | — | — | — | — | — | — | — | — | 2 mm 角以上 |
| 測定 | — | — | — | — | — | — | — | — | 厚さ・チッピング・裏面粗さ・3 点曲げ抗折強度 |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •AI プロセッサのシステムレベルテスト
掲載カテゴリ
Titan HPは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Teradyne(テラダイン)
ATE(自動テスト装置)の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
最終テスト装置のほかの製品
Teradyne(テラダイン)のほかの製品
UltraFLEXplus(ロジックテストシステム)Magnum EPIC(メモリテストシステム)UltraFLEX(最終テスト装置)ETS-800(混在型テストシステム)IP750Ex-HD(イメージセンサテストシステム)ETS-364(アナログ・リニアテストシステム)ETS-88(アナログ・リニアテストシステム)Magnum V(メモリテストシステム)Magnum 2(メモリテストシステム)Magnum 7(メモリテストシステム)Magnum VUy(メモリテストシステム)Magnum 7H(メモリテストシステム)Magnum E2(メモリテストシステム)J750Ex-HD(ロジックテストシステム)Titan(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Photon 100(混在型テストシステム)Iris 100(イメージセンサテストシステム)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07