ETS-88とは
ETS-88 は、Teradyne のテストプラットフォームです。単一サイト、マルチサイト、インデックスパラレルの試験で、高いスループットと低い試験コストを実現するように最適化されています。
シンプルなアナログ、高精度、高電圧、大電流・パワー、車載、ビデオ、オーディオ、複雑なミクスドシグナル、さらに SiC や GaN などの新しいパワープロセスまで、幅広いデバイスを試験できます。サイトごとに独立したフローティングのリソースを持ち、サイト間でリソースを共有しないため、サイト間の分離と測定精度を高めます。
マルチテストヘッドの設計で、1m² の床面積で 1 台あたり最大 4 種類の DUT を試験できます。各テストヘッドはアナログ最大 72 チャンネル、デジタル最大 32 チャンネルを持ちます。
主な特長
- •サイトごとの独立フローティングリソース
- •1m² で最大 4 種類の DUT
- •SiC・GaN にも対応
主な仕様
| 構成 | 1m² で最大 4 種類の DUT(マルチテストヘッド) |
|---|---|
| チャンネル | テストヘッドあたりアナログ最大 72・デジタル最大 32 |
| 対象 | アナログ・高電圧・大電流・車載・SiC・GaN |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Chroma ATE(致茂電子)Chroma 3680 | アドバンテストV93000 パワー・アナログソリューション | アドバンテストEVA100 | テセック530-IT | Teradyne(テラダイン)ETS-364 | Teradyne(テラダイン)ETS-88 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 主要用途 | ファブレス・IDM・テストハウスの多数個同時測定 | LDO・DC/DC レギュレータなど電源 IC の量産テスト | — | 制御回路内蔵パワーデバイスの電気特性試験 | 電源管理・バッテリー管理・データコンバータ・車載デバイス | — |
| 対応デバイス | コンシューマ向けデバイス・高性能マイコン・アナログ IC・SoC | PMIC・BMS・車載向けパワー/アナログ IC | — | IPD(インテリジェントパワーデバイス)・IPM | — | — |
| システム構成 | 汎用スロット 24・最大 2,048 ピン | V93000 EXA Scale プラットフォーム | — | パワーデバイス試験+IC 試験の複合構成 | — | — |
| 対象 | — | — | センサ・アナログ・ミクスドシグナル・デジタル IC、車載 ECU | — | アナログ・ミクスドシグナル IC | アナログ・高電圧・大電流・車載・SiC・GaN |
| 主なオプション | HDADDA2(コンバータ)・HDVI(高電圧・車載)・HDAVO(映像・音響) | XPS128+HV(128ch・最大 +24 V の VI)・PMUX02(22 スイッチ・±160 V) | — | — | — | — |
| 構成 | — | — | 電源・VI ソース・パターン発生器・波形発生器・キャプチャ機能 | — | — | 1m² で最大 4 種類の DUT(マルチテストヘッド) |
1機種だけが掲載している項目(3件)
| 特徴 | — | — | プログラミング言語不要の操作環境 | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 技術 | — | — | — | — | 特許の SmartPin・フローティング構成 | — |
| チャンネル | — | — | — | — | — | テストヘッドあたりアナログ最大 72・デジタル最大 32 |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •電源管理 IC・DC-DC コンバータの試験
- •SiC・GaN パワーデバイス
掲載カテゴリ
ETS-88は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Teradyne(テラダイン)
ATE(自動テスト装置)の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
アナログ・リニアテストシステムのほかの製品
Teradyne(テラダイン)のほかの製品
UltraFLEXplus(ロジックテストシステム)Magnum EPIC(メモリテストシステム)UltraFLEX(最終テスト装置)ETS-800(混在型テストシステム)IP750Ex-HD(イメージセンサテストシステム)ETS-364(アナログ・リニアテストシステム)Magnum V(メモリテストシステム)Magnum 2(メモリテストシステム)Magnum 7(メモリテストシステム)Magnum VUy(メモリテストシステム)Magnum 7H(メモリテストシステム)Magnum E2(メモリテストシステム)J750Ex-HD(ロジックテストシステム)Titan(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Titan HP(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Photon 100(混在型テストシステム)Iris 100(イメージセンサテストシステム)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07