Magnum EPIC
DRAMのファイナルテスト向けメモリテスタ。DUT近傍で測定するNear-DUT-Test技術により、高速化と高並列測定を両立する。
Magnum EPICとは
Magnum EPIC は、テラダインの最新世代 DRAM 向けメモリテスタです。LPDDR5・DDR5・LPDDR4x・グラフィックス DDR に対応し、5G、AI、クラウド、自動運転、AR/VR などに使われるメモリのテストを担います。
特長は Near DUT Test（NDT）技術です。信号計測器をデバイス固有のアダプタに直接つなぎ、長いケーブルをなくすことで信号品質を高めています。ソースシンクロナス対応により DQ 出力のアイ開口が広がり、歩留まり向上につながるとしています。
量産用の Magnum EPIC SSV は、7Gbps の高速デジタルチャンネルを 18,400 以上、電源チャンネルを 2,000 備え、144 ピンのメモリテストユニット（MTU）を最大 128 まで構成できます。開発用の EV（最大 1,152 ピン）とはアダプタとテストプログラムの互換性があります。
主な特長
- •Near DUT Test（NDT）による高い信号品質
- •SSV：7Gbps × 18,400 ch 超、電源 2,000 ch、最大 128 MTU
- •LPDDR と NAND を混載した MCP の同時テスト
- •開発用 EV と量産用 SSV でプログラム互換
主な仕様
| 対応デバイス | LPDDR5・DDR5・GDDR6 |
|---|---|
| チャンネル数 | 18,400 ch 超（7 Gbps／ch） |
| 電源チャンネル | 2,000 ch |
| 構成 | 最大 128 MTU（1 MTU あたり 144 高速ピン） |
| 特徴 | Near-DUT-Test 技術 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | アドバンテストT5503HS2 | アドバンテストT5851／T5851ES | Teradyne（テラダイン）Magnum EPIC |
|---|---|---|---|
| 対応デバイス | DDR5・LPDDR5・DDR4・LPDDR4・HBM | UFS 4.0・PCIe Gen5 embedded NAND | LPDDR5・DDR5・GDDR6 |
| チャンネル数 | 16,256 | — | 18,400 ch 超（7 Gbps／ch） |
| 特徴 | DQS-DQタイミング自動調整・ALPG搭載 | — | Near-DUT-Test 技術 |
| 構成 | — | 量産モデル／エンジニアリングモデル | 最大 128 MTU（1 MTU あたり 144 高速ピン） |
1機種だけが掲載している項目（6件）
| 最大評価速度 | 9 Gbps | — | — |
|---|---|---|---|
| タイミング確度 | ±45 ps | — | — |
| 高速モジュール | — | T5851-STM32G（最大 32 Gbps） | — |
| 測定方式 | — | テスタ・パー・DUT | — |
| 主要用途 | — | システムレベルテスト・信頼性／特性評価 | — |
| 電源チャンネル | — | — | 2,000 ch |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •LPDDR5・DDR5 のファイナルテスト
- •グラフィックス DDR・MCP の量産テスト
掲載カテゴリ
Magnum EPICは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Teradyne（テラダイン）
ATE（自動テスト装置）の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
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関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日：2026-10-05