ETS-364
高精度アナログ・ミクスドシグナル IC の量産試験向けの汎用テストプラットフォーム。マルチサイトの統合アーキテクチャを持つ。
ETS-364とは
ETS-364 は、Teradyne の汎用の高精度アナログ・ミクスドシグナル テストプラットフォームです。集積回路の大量生産の試験向けに設計され、ソフトウェアとハードウェアを完全に統合したマルチサイトの構成で、高いスループットを出します。
特許の SmartPin 技術とフローティング構成で、パターンベースの試験能力を持ち、優れた並列試験の能力を提供します。OSAT にとって経済性が高く、幅広いデバイスを試験できます。ETS ファミリーの中でスループットの要求に合わせて試験プラットフォームを拡張できます。
電源管理、バッテリー管理、オーディオ、LED ドライバ、データコンバータ、温度センサー、ディスクドライブ、車載デバイス、高精度アンプ、基準電圧源などの試験に使われます。
主な特長
- •SmartPin 技術
- •マルチサイトの統合アーキテクチャ
- •ETS ファミリーで拡張可能
主な仕様
| 対象 | アナログ・ミクスドシグナル IC |
|---|---|
| 技術 | 特許の SmartPin・フローティング構成 |
| 主要用途 | 電源管理・バッテリー管理・データコンバータ・車載デバイス |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Chroma ATE(致茂電子)Chroma 3680 | アドバンテストV93000 パワー・アナログソリューション | アドバンテストEVA100 | テセック530-IT | Teradyne(テラダイン)ETS-364 | Teradyne(テラダイン)ETS-88 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 主要用途 | ファブレス・IDM・テストハウスの多数個同時測定 | LDO・DC/DC レギュレータなど電源 IC の量産テスト | — | 制御回路内蔵パワーデバイスの電気特性試験 | 電源管理・バッテリー管理・データコンバータ・車載デバイス | — |
| 対応デバイス | コンシューマ向けデバイス・高性能マイコン・アナログ IC・SoC | PMIC・BMS・車載向けパワー/アナログ IC | — | IPD(インテリジェントパワーデバイス)・IPM | — | — |
| システム構成 | 汎用スロット 24・最大 2,048 ピン | V93000 EXA Scale プラットフォーム | — | パワーデバイス試験+IC 試験の複合構成 | — | — |
| 対象 | — | — | センサ・アナログ・ミクスドシグナル・デジタル IC、車載 ECU | — | アナログ・ミクスドシグナル IC | アナログ・高電圧・大電流・車載・SiC・GaN |
| 主なオプション | HDADDA2(コンバータ)・HDVI(高電圧・車載)・HDAVO(映像・音響) | XPS128+HV(128ch・最大 +24 V の VI)・PMUX02(22 スイッチ・±160 V) | — | — | — | — |
| 構成 | — | — | 電源・VI ソース・パターン発生器・波形発生器・キャプチャ機能 | — | — | 1m² で最大 4 種類の DUT(マルチテストヘッド) |
1機種だけが掲載している項目(3件)
| 特徴 | — | — | プログラミング言語不要の操作環境 | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 技術 | — | — | — | — | 特許の SmartPin・フローティング構成 | — |
| チャンネル | — | — | — | — | — | テストヘッドあたりアナログ最大 72・デジタル最大 32 |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •電源管理 IC の量産試験
- •車載アナログデバイス
掲載カテゴリ
ETS-364は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Teradyne(テラダイン)
ATE(自動テスト装置)の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
アナログ・リニアテストシステムのほかの製品
Teradyne(テラダイン)のほかの製品
UltraFLEXplus(ロジックテストシステム)Magnum EPIC(メモリテストシステム)UltraFLEX(最終テスト装置)ETS-800(混在型テストシステム)IP750Ex-HD(イメージセンサテストシステム)ETS-88(アナログ・リニアテストシステム)Magnum V(メモリテストシステム)Magnum 2(メモリテストシステム)Magnum 7(メモリテストシステム)Magnum VUy(メモリテストシステム)Magnum 7H(メモリテストシステム)Magnum E2(メモリテストシステム)J750Ex-HD(ロジックテストシステム)Titan(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Titan HP(システムレベルテスト)(最終テスト装置)Photon 100(混在型テストシステム)Iris 100(イメージセンサテストシステム)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07