凱文連接是指在量測對象上，將用來通電流的配線（force）與用來量測電壓的配線（sense）分別連接的連接方式。也稱為4端點量測，以19世紀物理學家凱文勳爵命名。這是排除配線與接觸部電阻造成的電壓降影響、準確量測微小電阻的基本手法。
只用2條配線量測電阻的2端點量測，會把電流流經的配線與接觸部的電阻也一起量進去。若要量測的電阻在數mΩ以下，配線與接觸電阻反而更大，無法得到正確數值。凱文連接是以驅動線通入電流，再以直接接觸量測對象兩端的感測線量測電壓。由於電壓計的輸入端幾乎沒有電流流過，感測線電阻造成的電壓降可以忽略，只量到量測對象本身的電壓。量測晶圓片電阻的四點探針法，也是基於相同概念的量測方法。
在半導體測試中，凱文連接用於量測功率MOSFET的導通電阻（數mΩ），以及讓測試設備（ATE）的電源單元在元件端子位置準確維持輸出電壓。在測試座方面，會使用在1個端子上抵觸2支針（force與sense）的凱文測試座。此外，功率半導體封裝中也有設置專用源極端子（凱文源極）作為閘極驅動基準的4端子封裝。由於流過大電流的主源極配線的寄生電感影響不會波及閘極驅動電路，因此能在SiC MOSFET等的高速切換中降低損耗。