測試座（接觸器，contactor）是在最終測試中，以電性連接已封裝元件端子與DUT板的接觸零件。它在封裝後的製程中，扮演相當於晶圓測試中探針卡的角色。測試分類機將產品壓入測試座即建立接觸，進行量測。
接觸方式大致分為2類。彈簧針（pogo pin）方式是將內建彈簧的細針壓在端子上，接觸穩定、反覆使用壽命長，但針的自感會成為高頻特性的限制。矽膠方式則是壓縮在絕緣橡膠中分散導電粒子的片材以取得導通，傳輸距離短、高頻特性優異，也較容易對應微細間距。
測試座所要求的性能包括低接觸電阻、穩定的反覆接觸、良好的高頻特性，以及承受大電流的能力。近年電源電流越來越大，接觸電阻造成的發熱與壓降會影響量測精度，因此電源端子的接觸設計特別重要。此外，也需要設計不會損傷BGA錫球的接觸荷重。
測試座是典型的耗材。接觸數萬～數十萬次後探針會磨耗，焊料與助焊劑的殘留物會堆積在接觸面上使電阻升高。若置之不理，只有特定針腳會發生接觸不良，成為將良品誤判為不良（誤殺，overkill）的原因，因此定期清潔與更換週期的管理是測試良率的前提條件。
在溫度條件下使用也是考量重點。在高溫、低溫的動作保證測試中，測試座本身也會暴露於溫度變化，因此需要將熱膨脹造成的位置偏移與材料特性變化納入設計。主要廠商有韓國的ISC、LEENO，日本的山一電機、Enplas，以及美國的Smiths Interconnect等。