類比・線性測試系統是什麼
類比・線性測試系統是針對運算放大器、電源 IC、驅動 IC 等以線性電路為主體的元件，量測其電氣特性的自動測試設備。以高精度的 SMU（電源量測單元）量測偏移電壓、輸入偏壓電流、增益、輸出電流等參數，判定是否符合規格。電源管理 IC 需要大電流、高電壓的施加能力，車用元件則需要在高溫環境下的量測穩定性，這些是設備選型的要點。
重點整理
以高精度量測以線性電路為主體之元件的電氣特性
評估偏移電壓、輸入偏壓電流、增益、輸出電流
高精度的 SMU（電源量測單元）是量測的核心
電源管理 IC 的要點在於大電流、高電壓的施加能力
相關用語
比較文章
半導體測試設備的其他分類
最終測試設備
最終測試（Final Test）是對完成封裝的半導體元件，在出貨前進行最終電氣特性檢測的製程。
影像感測器測試系統影像感測器測試系統是量測 CMOS 影像感測器、顯示驅動器等與光或顯示相關之元件特性的自動測試設備。
邏輯測試系統邏輯測試系統是對 SoC、微控制器、FPGA 等以數位邏輯電路為主體的元件，高速施加大量測試圖樣並與期望值比對的自動測試設備（ATE）。
記憶體測試系統記憶體測試系統是對 DRAM、NAND 快閃記憶體等記憶體元件，反覆對所有位址進行寫入與讀取，以位元為單位檢出不良的自動測試設備。
混合訊號測試系統混合訊號測試系統是以 1台設備一次量測數位電路與類比／RF 電路整合於同一晶片之混合訊號元件的自動測試設備。
封裝外觀・凸塊檢測設備封裝外觀・凸塊檢測設備是以光學方式檢測、量測後段製程所製作之凸塊、重布線與封裝外觀的設備。
功率元件測試機功率元件測試機是量測 MOSFET、IGBT、二極體等功率元件電氣特性的設備。
系統級測試（SLT）設備系統級測試（SLT）設備是將完成最終測試的處理器等元件，裝載於接近實際產品的電路板上，執行作業系統（OS）與應用程式，以確認其是否正常運作的設備。
晶圓針測機晶圓針測機（Wafer Prober）是在切割前的晶圓狀態下，檢測所有晶片電氣特性的設備。