PrimeVision 10 是應用材料(Applied Materials)的電子束(eBeam)缺陷檢測設備。元件越複雜、垂直方向越高,影響良率的缺陷就越難找出,電子束檢測的重要性也隨之提高。
結合新的冷場發射(CFE)技術與最新的背向散射電子(BSE)偵測,大幅提高成像速度與靈敏度。可對應埋藏在膜中的缺陷、深溝槽缺陷、奈米級圖案偏移、電性缺陷等各種缺陷。
以提高電流密度的 CFE 進行大範圍成像,加快製程開發與量產中的除錯。
結合冷場發射(CFE)與背向散射電子偵測的高速電子束缺陷檢測設備。
PrimeVision 10 是應用材料(Applied Materials)的電子束(eBeam)缺陷檢測設備。元件越複雜、垂直方向越高,影響良率的缺陷就越難找出,電子束檢測的重要性也隨之提高。
結合新的冷場發射(CFE)技術與最新的背向散射電子(BSE)偵測,大幅提高成像速度與靈敏度。可對應埋藏在膜中的缺陷、深溝槽缺陷、奈米級圖案偏移、電性缺陷等各種缺陷。
以提高電流密度的 CFE 進行大範圍成像,加快製程開發與量產中的除錯。
| 方式 | 電子束檢測(冷場發射・背向散射電子偵測) |
|---|---|
| 偵測對象 | 膜中埋藏缺陷・深溝槽・圖案偏移・電性缺陷 |
| 主要用途 | 製程開發・量產的製程管理 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。