アナログ・リニアテストシステムメーカー5社
アナログ・リニアテストシステムは、オペアンプ・電源IC・ドライバICなどリニア回路を主体とするデバイスの電気的特性を測定する自動試験装置です。オフセット電圧・入力バイアス電流・利得・出力電流といったパラメータを高精度なSMU（ソースメジャーユニット）で測定し、規格内かを判定します。パワーマネジメントICでは大電流・高電圧の印加能力、車載向けでは高温環境での測定安定性が装置選定の要点になります。
主要特徴
メーカー
5社の主要メーカー
半導体テスト装置（ATE）市場で世界シェア50%超のリーダー。SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューションを提供。
- •ATE市場で世界シェア50%以上のトップポジション
- •SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューション
台湾の計測・自動テスト装置メーカー。SoCテスタ、パワーデバイス用テスタ、バーンインシステム、LED/光電子デバイス検査装置まで幅広く手掛ける。
- •パワー半導体向けテスタに強み
- •テスタとバーンインシステムを一体で提供
ディスクリート半導体・パワーデバイス向けのテスタとテストハンドラを手掛けるメーカー。測定器とハンドラを組み合わせたテストシステムとして供給する。
- •ディスクリート・パワーデバイスのテストに特化
- •テスタとハンドラを自社で組み合わせて提供
映像・音響測定器を源流とする計測機器メーカー。半導体分野ではアナログ・ミックスドシグナル向けのテストシステムやテスト用計測モジュールを供給する。
- •アナログ計測で培った高精度測定技術
- •映像・音響からの技術展開
半導体テストシステムのメーカー。ディスプレイドライバICやイメージセンサ、タッチコントローラなど特定用途デバイス向けのテスタを開発・供給する。
- •ディスプレイドライバ・イメージセンサ向けに特化
- •デバイスごとに最適化したテスト構成
関連カテゴリ
ファイナルテスト（Final Test）は、パッケージング完了後の半導体デバイスに対して出荷前の最終電気特性検査を行うプロセスです。
メーカー 5 社イメージセンサテストシステムイメージセンサテストシステムは、CMOSイメージセンサやディスプレイドライバなど、光や表示に関わるデバイスの特性を測定する自動試験装置です。
メーカー 3 社ロジックテストシステムロジックテストシステムは、SoC・マイコン・FPGAなどデジタル論理回路を主体とするデバイスに対し、大量のテストパターンを高速に印加して期待値と比較する自動試験装置（ATE）です。
メーカー 4 社メモリテストシステムメモリテストシステムは、DRAM・NANDフラッシュなどのメモリデバイスに対し、全アドレスへの書き込みと読み出しを繰り返してビット単位の不良を検出する自動試験装置です。
メーカー 2 社混在型テストシステム混在型テストシステムは、デジタル回路とアナログ／RF回路が同一チップに搭載されたミックスドシグナルデバイスを、1台で一括測定する自動試験装置です。
メーカー 5 社ウェハプローバーウェハプローバー（Wafer Prober）は、ダイシング前のウェハ状態で全チップの電気特性を検査する装置です。
メーカー 8 社