EVA100とは
EVA100 は、アドバンテストの計測システムです。デバイスや制御ボードの特性評価、機能評価、量産性評価に必要な計測機能(電源、VI ソース、パターンジェネレータ、波形発生器、キャプチャ機能など)を、コンパクトな 1 台に搭載した複合型の計測器です。
アナログ・センサ IC の重要性が増し、アナログとデジタルの融合が進むなかで、複数の計測器を組み合わせていた測定環境を 1 台で構築できます。各機能を高いタイミング精度で同期制御でき、特殊な操作技術なしに高い再現性を得られます。
センサ IC、DC-DC コンバータなどのアナログ IC、AD/DA コンバータなどのミクスドシグナル IC、MCU などのデジタル IC、自動車向け ECU を含む制御ボードの評価から量産まで使えます。プログラミング言語を使わない直感的な操作環境も特長です。
主な特長
- •評価用計測機能を 1 台に統合
- •高いタイミング精度で同期制御
- •プログラミング不要
主な仕様
| 構成 | 電源・VI ソース・パターン発生器・波形発生器・キャプチャ機能 |
|---|---|
| 対象 | センサ・アナログ・ミクスドシグナル・デジタル IC、車載 ECU |
| 特徴 | プログラミング言語不要の操作環境 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Chroma ATE(致茂電子)Chroma 3680 | アドバンテストV93000 パワー・アナログソリューション | アドバンテストEVA100 | テセック530-IT | Teradyne(テラダイン)ETS-364 | Teradyne(テラダイン)ETS-88 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 主要用途 | ファブレス・IDM・テストハウスの多数個同時測定 | LDO・DC/DC レギュレータなど電源 IC の量産テスト | — | 制御回路内蔵パワーデバイスの電気特性試験 | 電源管理・バッテリー管理・データコンバータ・車載デバイス | — |
| 対応デバイス | コンシューマ向けデバイス・高性能マイコン・アナログ IC・SoC | PMIC・BMS・車載向けパワー/アナログ IC | — | IPD(インテリジェントパワーデバイス)・IPM | — | — |
| システム構成 | 汎用スロット 24・最大 2,048 ピン | V93000 EXA Scale プラットフォーム | — | パワーデバイス試験+IC 試験の複合構成 | — | — |
| 対象 | — | — | センサ・アナログ・ミクスドシグナル・デジタル IC、車載 ECU | — | アナログ・ミクスドシグナル IC | アナログ・高電圧・大電流・車載・SiC・GaN |
| 主なオプション | HDADDA2(コンバータ)・HDVI(高電圧・車載)・HDAVO(映像・音響) | XPS128+HV(128ch・最大 +24 V の VI)・PMUX02(22 スイッチ・±160 V) | — | — | — | — |
| 構成 | — | — | 電源・VI ソース・パターン発生器・波形発生器・キャプチャ機能 | — | — | 1m² で最大 4 種類の DUT(マルチテストヘッド) |
1機種だけが掲載している項目(3件)
| 特徴 | — | — | プログラミング言語不要の操作環境 | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 技術 | — | — | — | — | 特許の SmartPin・フローティング構成 | — |
| チャンネル | — | — | — | — | — | テストヘッドあたりアナログ最大 72・デジタル最大 32 |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •アナログ・センサ IC の評価
- •車載 ECU の評価
掲載カテゴリ
EVA100は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
アナログ・リニアテストシステムのほかの製品
アドバンテストのほかの製品
V93000 EXA Scale(ロジックテストシステム)T5503HS2(メモリテストシステム)T5851/T5851ES(メモリテストシステム)MASK MVM-SEM® E3650(マスク寸法・平面度測定装置)T2000(最終テスト装置)M6242(テストハンドラ)(テストハンドラ)V93000 パワー・アナログソリューション(アナログ・リニアテストシステム)T5801(メモリテストシステム)T5835(メモリテストシステム)T5830(メモリテストシステム)T5833(メモリテストシステム)T5511(メモリテストシステム)T5221(メモリテストシステム)T5230(メモリテストシステム)H5620(メモリテストシステム)B6700 シリーズ(バーンインシステム)T6391(混在型テストシステム)EXAVIS(パワー半導体)MT100/MT200(パワー半導体テストシステム)(パワー半導体)M5241(テストハンドラ)(テストハンドラ)M4841(テストハンドラ)(テストハンドラ)M4872(テストハンドラ)(テストハンドラ)M4173(テストハンドラ)(テストハンドラ)HA7200(温度・圧力ユニット)(MEMS)HA7300(Stimulus Test Cell)(MEMS)HA1200(ダイレベルプローバ)(ウェハプローバー)7038(システムレベルテスト)(最終テスト装置)MASK MVM-SEM® E3640(マスク寸法・平面度測定装置)MASK CD-SEM E3660(マスク寸法・平面度測定装置)MASK DR-SEM E5620(マスク検査装置)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07