ロジックテストシステムメーカー4社
ロジックテストシステムは、SoC・マイコン・FPGAなどデジタル論理回路を主体とするデバイスに対し、大量のテストパターンを高速に印加して期待値と比較する自動試験装置（ATE）です。ピン数とデータレートが性能を決め、先端SoCでは数千ピン・数Gbps級のデジタルチャネルが要求されます。ATPGで生成したスキャンパターンやBISTを併用して故障検出率を高めつつ、テスト時間の短縮によるテストコスト削減が主要な課題になります。
主要特徴
代表製品・スペック
V93000 EXA Scale
先端デジタルIC向けのSoCテストシステム。スキャンデータ量の増大と大電流化に対応するカード群を、専用の内部ネットワークで束ねる構成を取る。
| 対応デバイス | モバイルSoC・HPC・AI向け先端デジタルIC |
| デジタルカード | Pin Scale 5000（スキャン 5 Gbps） |
| 電源カード | XPS256（mA ～ 1,000 A 超） |
| 内部ネットワーク | Xtreme Link |
| プラットフォーム | V93000 シリーズ |
UltraFLEXplus
UltraFLEXファミリーのSoCテスタ。マルチコントローラ構成により、複雑なデバイスのデバッグ・特性評価を並行して進められる。
| 対応デバイス | デジタル／ミックスドシグナル SoC |
| アーキテクチャ | PACE マルチコントローラ |
| システム構成 | 3種のベースシステム |
| DIB | Broadside DIB（高密度・多サイト） |
| ソフトウェア | IG-XL |
※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
メーカー
4社の主要メーカー
半導体テスト装置（ATE）市場で世界シェア50%超のリーダー。SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューションを提供。
- •ATE市場で世界シェア50%以上のトップポジション
- •SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューション
ATE（自動テスト装置）の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
- •ATE市場でアドバンテストと並ぶ世界2強の一角
- •SoC・メモリ・車載向けの包括的テストラインナップ
映像・音響測定器を源流とする計測機器メーカー。半導体分野ではアナログ・ミックスドシグナル向けのテストシステムやテスト用計測モジュールを供給する。
- •アナログ計測で培った高精度測定技術
- •映像・音響からの技術展開
半導体テストシステムのメーカー。ディスプレイドライバICやイメージセンサ、タッチコントローラなど特定用途デバイス向けのテスタを開発・供給する。
- •ディスプレイドライバ・イメージセンサ向けに特化
- •デバイスごとに最適化したテスト構成
関連カテゴリ
アナログ・リニアテストシステムは、オペアンプ・電源IC・ドライバICなどリニア回路を主体とするデバイスの電気的特性を測定する自動試験装置です。
メーカー 5 社最終テスト装置ファイナルテスト（Final Test）は、パッケージング完了後の半導体デバイスに対して出荷前の最終電気特性検査を行うプロセスです。
メーカー 5 社イメージセンサテストシステムイメージセンサテストシステムは、CMOSイメージセンサやディスプレイドライバなど、光や表示に関わるデバイスの特性を測定する自動試験装置です。
メーカー 3 社メモリテストシステムメモリテストシステムは、DRAM・NANDフラッシュなどのメモリデバイスに対し、全アドレスへの書き込みと読み出しを繰り返してビット単位の不良を検出する自動試験装置です。
メーカー 2 社混在型テストシステム混在型テストシステムは、デジタル回路とアナログ／RF回路が同一チップに搭載されたミックスドシグナルデバイスを、1台で一括測定する自動試験装置です。
メーカー 5 社ウェハプローバーウェハプローバー（Wafer Prober）は、ダイシング前のウェハ状態で全チップの電気特性を検査する装置です。
メーカー 8 社