最後更新:2026年10月23日氧化物 CMP 設備

Reflexion LK Prime CMP的特點與規格

應用材料(Applied Materials)・氧化物 CMP 設備

針對2步驟CMP最佳化的300mm用CMP平台。增加研磨・清洗模組,處理能力高於Reflexion LK CMP的高階機型。

目錄6 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 常見問題
  5. 製造商與在台據點
  6. 資料來源

產品概要

Reflexion LK Prime CMP 是應用材料的 300mm 用 CMP(化學機械研磨)系統。依序排列4片研磨墊、6個研磨頭、8個清洗腔體與2個乾燥腔體,針對2步驟的 CMP 進行最佳化。

研磨・清洗模組數為 14,比前代機型 Reflexion LK CMP 的 7 倍增。加上晶圓傳送的最佳化,據廠商資料,在許多用途中產能最高可達2倍。

各研磨・清洗站可獨立使用,因此可選擇依序、平行或批次任一種處理。例如 3D NAND 的厚膜與大段差需要長時間穩定的研磨,將其分配到多個研磨平台,以連續的短時間研磨進行,即可使平坦化穩定並減少缺陷。

主要規格

適用晶圓尺寸300 mm
研磨部配置研磨墊 4・研磨頭 6
清洗・乾燥部清洗腔體 8・乾燥腔體 2
處理模式可選擇依序/平行/批次
主要用途2步驟CMP・3D NAND用平坦化

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

研磨墊4・研磨頭6・清洗腔體8・乾燥腔體2 的配置
研磨・清洗模組 14(Reflexion LK CMP 為 7)
在許多用途中產能最高達2倍
可選擇依序/平行/批次處理,並可依研磨平台調整條件

主要用途

  • 2步驟 CMP(STI・層間介電層等的平坦化)
  • 3D NAND 厚膜・大段差的平坦化

Reflexion LK Prime CMP的常見問題

與 Reflexion LK CMP 有何不同?
LK Prime 是針對2步驟 CMP 最佳化的高階機型,研磨・清洗模組增加到 14(LK 為 7)。LK 則以3個研磨平台的依序研磨,針對3步驟 CMP 進行最佳化。

製造商與在台據點

在台據點
  • 新竹據點(新竹科學園區):1996 年進駐,技術研發中心
  • 台南據點(台南):製造中心與顯示器設備製造研發中心
  • 林口・台中據點(林口・台中):營運據點

所屬設備分類

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資料來源

  1. 應用材料(Applied Materials)官方產品頁面:Applied Materials Reflexion LK Prime CMP